ВУЗ:
Рубрика:
2 Геометрическая
конфигурация
точечных дефектов
2 2
3 Мелкие уровни
2 2
4 Глубокие уровни 6 6 4
5 Учет
корреляционного
взаимодействия
4 4 2
ИТОГО 22 16 6
IV. Форма итогового контроля
Зачет
V. Учебно-методическое обеспечение курса
1. Рекомендуемая литература (основная):
1. А.М. Стоунхэм, Теория дефектов в твердых телах, М.: Мир, 1978. (В двух томах: т.1 -
569 с., т.2 - 357 с.).
2. А. Милнс, Примеси с глубокими уровнями в полупроводниках, М.: Мир, 1977. 562 с.
3. М. Лано, Ж. Бургуэн, Точечные дефекты в полупроводниках. Теория. М.: Мир, 1984.
263 с.
4. Точечные дефекты в твердых телах. Сб. статей: Пер. с англ. М.: Мир, 1979. 379 с.
Автор
Чалдышев Виктор Александрович, к.ф.-м.н., доцент
