Полупроводниковые приборы. Элементная база. Юрк О.Д - 21 стр.

    Рекомендуемая литератур:
    1. Батушев В.А. Электронные приборы. -.: Высшая школа, 1969.
    2. Гершунский Б.С. Основы электроники. – Киев, 1977
    Измерительная лабораторная установка
    Спектральную характеристику фоторезистора – зависимость тока от длины
волны излучения при постоянном световом потоке и напряжении, исследуют с
помощью схемы, приведенной на рисунке 5.1




                                                 PR


                                 Рисунок 5.1

    Световой поток от лампы накаливания (ЛН) поступает через светофильтр
М на фоторезистор R (из сернистого кадмия). Устройство, содержащее набор
сменных светофильтров позволяет выделить из светового потока лампы
накаливания определенную спектральную составляющую. Изменяя длину
волны падающего на фоторезистор света и измеряя при этом сопротивление
фоторезистора омметром PR можно снять спектральную характеристику
фоторезистора.
    Световую характеристику фоторезистора – зависимость электрического
тока от светового потока при постоянном напряжении на приборе и
неизменном спектральном составе светового потока, исследуют с помощью той
же схемы. Изменяя размер диафрагмы осветителя, можно изменять
освещенность фоторезистора и измерять при этом сопротивление
фоторезистора омметром PR.
    Спектральную характеристику фотодиода – зависимость фототока
короткого замыкания от длинны волны падающего излучения исследуют с
помощью схемы, приведенной на рисунке 5.2




                                 Рисунок 5.2

    Измеряя длину волны падающего на фотодиод излучения и измеряя при
этом фототоки короткого замыкания микроамперметром РА, можно получить
спектральную характеристику фотодиода.
    Световые характеристики фотодиода – зависимости
                                               PA    фототока короткого
замыкания и напряжения холостого хода от освещенности исследуют также с
                                                                       21