ВУЗ:
Составители:
30
30
4) дает возможность определять большие концентрации элементов в про-
бе ;
5) дает возможность определять из одной навески одновременно концен-
трации большого числа элементов .
Метод «последних линий» часто применяют для определения следов эле -
ментов.
Точность этого метода зависит от числа использованных последних ли-
ний. При определении элементов с развитым спектром можно в принципе дос-
тичь более высокой точности, чем в случае элементов с простым спектром.
Кроме того , относительная погрешность анализа зависит также от размера зер-
на фотоэмульсии и ее контрастности. Достигаемая относительная точность ана-
лиза даже в наиболее благоприятных случаях не выше ±10%.
Метод последних линий пригоден для полуколичественного анализа мно-
гих элементов .
ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ
1. Изучить теоретические основы методов полуколичественного спек-
трального анализа .
2. Получить у преподавателя задание на проведение полуколичественно-
го анализа методом «последних» линий для 2-3 элементов , содержащихся в
пробе , используя ее атомный эмиссионный спектр.
3. Изучить таблицы «последних» линий на выбранные элементы.
4. Используя спектропроектор ДСП-1 и таблицы «последних» линий
провести полуколичественный анализ на выбранные элементы. Сделать выво-
ды. Объяснить полученные результаты, пользуясь теоретическими основами
метода.
5. Разобрать возможные причины погрешностей при проведении полу-
количественного анализа методом «последних» линий.
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
1. Интенсивность спектральных линий в атомном спектре . Факторы,
влияющие на интенсивность. Связь интенсивности и концентрации элемента в
пробе .
2. Классификация методов полуколичественного спектрального анализа
и их основы.
3. Теоретические основы метода «последних» линий. Другие названия
метода и их обоснование .
4. Устройство таблиц «последних» линий, техника их получения и ис-
пользование в полуколичественном спектральном анализе .
5. Способы повышения точности полуколичественного анализа методом
«последних» линий.
6. Основы теории и техники методов сравнения спектров.
7. Метод Клера.
8. Основы теории и техники методов гомологических пар и фотометри-
ческого интерполирования .
