Составители:
Рубрика:
ность сквозного пролета устранена, то этот эффект мало скажется на
конечном результате;
– обратная связь уширит распределение за счет увеличения доли
больших импульсов;
– ограничение амплитуды пачки из-за взаимного расталкивания
электронов (часть из них может быть потеряна) или из-за ограниченной
емкости динода и цепи его питания. Этот эффект уменьшит долю боль-
ших импульсов и сузит распределение;
–
разброс времен пролета равномерно уширит распределение,
если регистрируется не количество электричества, а величина импульс-
ного тока.
Единственный способ заметно сузить распределение – увеличение
σ, хотя бы на первом диноде. Одновременно уменьшится вероятность
просчетов, потери первичного фотоэлектрона. Ведь при σ = 3…6 веро-
ятность того, что фотоэлектрон не вырвет ни одного вторичного элек-
трона на первом диноде, равна exp(
–σ) = (5…0,25)%. У ФЭУ-130 на
первом диноде σ = 30. Это – хороший "одноэлектронный" ФЭУ. При
σ = 30 просчеты почти невероятны и амплитудное распределение узко.
δ
t ≈ 10
-8
…
10
-9
c. t
I
анода
А
0.1A
Рис. 4.2.5.
Форма "одноэлек-
тронного" импульса тока на
аноде ФЭУ
A
0
А
m
А
мплитуда импульса À
N Число
импульсов
Рис. 4.2.6. Идеализированная форма
амплитудного распределения
одноэлектронных импульсов
Кроме полезных импульсов на выходе будут и шумовые, состав-
ляющие темновой ток ФЭУ. Большинство возможных причин образова-
ния первичного электрона, способного инициировать процесс
умножения (космическое излучение, авто- и термоэмиссия из динодов и
т.д.), проявляется случайным образом в случайной точке усилительного
тракта. Такие электроны пройдут неполный процесс умножения и на
выходе дадут пачку (импульс) малой амплитуды. Сюда же попадут и
микропробои по цепи питания и элементам конструкции. Исключение
25
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 23
- 24
- 25
- 26
- 27
- …
- следующая ›
- последняя »
