Рентгенография металлов. Занин И.Е. - 12 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

случае для измерений следует использовать линии с возможно большими

углами отражения θ .

Определение периодов кристаллической решетки методом

экстраполяции применимо главным образом к высокосимметричным

веществам , относящимся к кубической , гексагональной или

тетрагональным сингониям . Для кубических кристаллов с параметром

элементарной ячейки a, используя уравнение (1), можно записать (считая

∆λ=0):

)()( θθθ fctg

=∆−=

∆

, (3)

где ∆θ - сумма инструментальных смещений дифракционных

линий .

Если определено межплоскостное расстояние, соответствующее

линии под некоторым углом θ , то вычисленная по (3) величина параметра

элементарной ячейки равна :

a = a

[1 + f(θ)] (4)

Для большинства инструментальных смещений дифракционных

линий ∆θ

→0 (а, следовательно, и f(θ)→0) при θ→90

и, кроме того, f(θ)

обычно можно представить в виде некоторой простой функции от угла θ.

Наилучшие результаты метод экстраполяции дает в том случае, когда

экстраполяционная функция f(θ) представляет собой прямую . Тогда

величина параметра a, согласно (4), является линейной функцией . Одна из

наиболее распространенных экстраполяционных функций - функция

Тейлора-Синклера:

f(θ) = 1/2[ (cos

θ/sinθ) + (cos

θ /θ)]