Космическое материаловедение. Акишин А.И. - 40 стр.

средственно измеряемой величиной является электрический отклик,
измеряемый с помощью осциллографа, получаемый с образца при пода-
че на него импульсного электрического поля длительностью импульса
~2·10-8 с, максимальное значение поля 7 кВ. За время хранения облу-
ченных образцов в течении 10 лет в них сохраняется достаточно боль-
шой электрический заряд при Е~105 В/м.




   Рис.13. Принципиальная схема камеры для облучения образцов сте-
кол на циклотроне 1, 18 – вакуумные вентили; 2, 17 – сильфоны; 3 –
ограничивающая пучок диафрагма; 4, 6 – электромагнитный затвор; 5 –
диск с тормозящими фольгами; 7 – коллиматор; 8 – цилиндр Фарадея на
диске; 9, 10, 11 – механизм вращения диска, 12 – образец; 13 – резерву-
ар с жидким азотом; 14, 15 – конические шестерни; 16 – съемный фла-
нец; 19 ÷ 23 – элементы вакуумной системы.

   При использовании стеклянных линз в разнообразной оптической
аппаратуре, установленной на космических объектах, свечение внешней
линзы, вызванное космическим корпускулярным излучением, может
служить помехой основному световому сигналу. Поэтому большое зна-
чение имеет изучение радиолюминесцентных свойств стекол, установ-
ление основных закономерностей выхода свечения в зависимости от
состава образцов, измерение спектров, температурной зависимости све-
чения и т. д. Знание этих факторов играет решающую роль при оценке
возможных световых помех [18].

                                  40