Проектирование и расчет станочных и контрольно-измерительных приспособлений в курсовых и дипломных проектах. Аверьянов И.Н - 161 стр.

160

      3.7.4. Погрешность, вызванная неточностью изготовления устано-
вочных мер и эталонных деталей
      Возникновение погрешности εим обусловлено тем, что установочные
меры, эталоны или образцы вносят ошибку в результаты измерения, когда
определяют размер детали относительным методом.
      Одной из основных частей погрешности, вносимой при пользовании
концевыми мерами длины, является погрешность их аттестации (т.е. когда
действительный размер принимается с определенной достоверностью).
Могут возникнуть также погрешности от притирки, которые для некото-
рых концевых мер превышают погрешность аттестации.
      Для размеров до 500 мм погрешность от притирки составляет до
0,5 мкм. Для некоторых измерений такие ошибки являются существенны-
ми. Для малых размеров погрешность притирки в несколько раз больше
погрешности аттестации. В связи с этим концевые меры первого и второго
разрядов должны применяться только в виде отдельных мер, например,
для аттестации относительным методом более грубых разрядов, а также
для настройки приборов, но без сборки их в блок. В табл. 3.7 приведены
значения погрешности εим при использовании концевых мер.
      Если вместо установочных мер используются эталонные детали, то
погрешности εим может быть определена как погрешность изготовления
эталона, в соответствии с таблицами экономической точности методов об-
работки (по финишным операциям) в направлении параметра участвую-
щего в настройке средства измерения. Например, для валиков (оправок)
отклонения диаметральных размеров составляют порядка 0,004 –
 0,015 мм, радиальное биение 0,005 – 0,01 мм, для плоских эталонов от-
клонение размеров составляют 0,01 – 0,02 мм, отклонение от параллель-
ности плоскостей 0,004 – 0,008 мм по длине эталона. Для плоскопарал-
лельных плиток погрешность изготовления размеров 0,0001 – 0,0005 мм.

     3.7.5. Погрешность средства измерения
     Погрешность средства измерения εси свойственна любому методу
измерения и является его основной характеристикой. Она является слу-
чайной величиной, наибольшее возможное значение которой указывается
в технических характеристиках выбранного средства измерения, в зави-
симости от его класса точности и диапазона измерений. В табл. 3.4 приве-
дены погрешности наиболее часто применяемых в конструкции КИП
средств измерения.