ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
10
Е
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
•
Е
С
+- ---+--+
-
б
+
б’
-+--+--+-
-
E
D
a a
’
∆
E
g
E
F
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
•
--
E
A
в
в
’
E
V
+
+ + + + + +
+
+
+ + + + + + +
+ + + + + + + +
У атомов полупроводников свободные разрешённые энергетические уровни для возбуж-
дённых электронов заметно отличаются от их уровней в невозбуждённом состоянии. Между
валентной зоной E
V
и зоной проводимости для возбуждённых электронов E
C
возникает энерге-
тический зазор –
запрещённая зона: ∆Е
g
= E
C
– E
V
(см. рис. 3). В этой зоне для электронов нет
разрешённых энергетических уровней с нужным набором квантовых чисел. Однако, согласно
статистике Ферми–Дирака для невырожденного полупроводника энергетический
уровень Фер-
ми
E
F
, представляющий электрохимический потенциал электронов, расположен в запрещён-
ной зоне, где электроны находиться не могут. Это потому, что он лишь условно выражает плот-
ность и усреднённую энергию квантовых состояний электронов, которые в действительности
сосредоточены в зоне проводимости и в валентной зоне полупроводника.
Ширина запрещённой зоны зависит от природы полупроводника и может изменяться от до-
лей до нескольких эВ (см. таблицу 1). С ростом температуры она уменьшается по уравнению (эВ):
∆Е
g
= E
C
– E
V
= ∆Е
g0
– αT
2
/ (T + A), (1)
где
∆Е
g0
– ширина запрещённой зоны полупроводника при Т = 0 К; α – температурный коэффи-
циент,
α = d∆E
g
/ dT ≈ (5 ± 0,5)⋅10
–4
эВ/К; А – постоянная, которая зависит от природы полупро-
водника. Для германия, кремния и арсенида галлия
∆Е
g0
соответственно равна 0.744, 1.17 и
1.52 эВ;
α – 0.477, 0.473 и 0.540 мэВ/К; постоянная А – 235, 636 и 204 К [2].
5. Равновесные концентрации элект р о нов и пазонов
В отличие от металлов в полупроводниках образование (генерация) носителей заряда
может происходить разным образом, что показано в рисунках 2 и 3 и пояснениях к ним. Это,
во-первых, образование отрицательно заряженных свободных
электронов, которые движут-
ся
по междоузлиям кристаллической решётки (как в металлах), т. е. в зоне проводимости.
Во-вторых, это образование положительно заряженных
пазонов (дырок). Перенос тока ими
эквивалентен и противоположен движению валентных электронов по дефектам (пазонам) в
ковалентных связях, т. е. в валентной зоне. Отсюда два вида электрического тока:
электрон-
ный
и пазонный (дырочный) ток, что позволяет различать два вида полупроводников.
Генерация носителей заряда – это переход электронов возбуждённых атомов на более
высокие свободные энергетические уровни, что приводит к увеличению концентрации носите-
лей заряда. Возбуждение электронов может происходить
при повышении температуры по-
лупроводника, т. е. при увеличении энергии колебаний атомов его кристаллической решётки,
при облучении полупроводника светом и другими достаточно мощными видами излучений,
при разрыве валентных связей
в сильных электрических полях и т. п.
Межзонная генерация сразу двух носителей тока: электрона и пазона, связанная с переходом
электрона из валентной зоны в зону проводимости, называется
биполярной генерацией (см. рисунки 2
и 3, случай а). Переход возбуждённых электронов от атомов донорной примеси в междоузлие кри-
сталлической решётки (в зону проводимости) и валентных электронов атома полупроводника к ато-
мам акцепторной примеси называется
монополярной генерацией (см. рисунки 2 и 3, случаи б и в).
Рис. 3. Схема энергетических зон полупроводника
Е
C
– нижний энергетический уровень зоны проводимости;
E
V
– верхний энергетический уровень валентной зоны;
E
D
– энергетический уровень донорной примеси;
Е
А
– энергетический уровень акцепторной примеси;
E
F
– энергетический уровень Ферми;
∆Е
g
– ширина запрещённой зоны.
Переходы электронов: а и а
′ – из валентной зоны полу-
проводника в его зону проводимости и обратно;
б и б
′
– с уровня E
D
в зону проводимости и обратно;
в и
в
′
– из валентной зоны на
ур
овень
Е
А
и об
р
атно.
Е • • • • • • • • • Рис. 3. Схема энергетических зон полупроводника • • • • • • • • • • • • • • • • • ЕC нижний энергетический уровень зоны проводимости; ЕС EV верхний энергетический уровень валентной зоны; б б ED энергетический уровень донорной примеси; +- ---+--+ - + -+--+--+-- E D ЕА энергетический уровень акцепторной примеси; a a ∆ E g EF EF энергетический уровень Ферми; •--•--•--•--•--•--•--•--•--•--•-- E A ∆Еg ширина запрещённой зоны. в в E V Переходы электронов: а и а′ из валентной зоны полу- + ++ + + + + ++ проводника в его зону проводимости и обратно; + + + + + + + б и б′ с уровня ED в зону проводимости и обратно; + ++ + + + + + в и в′ из валентной зоны на уровень ЕА и обратно. У атомов полупроводников свободные разрешённые энергетические уровни для возбуж- дённых электронов заметно отличаются от их уровней в невозбуждённом состоянии. Между валентной зоной EV и зоной проводимости для возбуждённых электронов EC возникает энерге- тический зазор запрещённая зона: ∆Еg = EC EV (см. рис. 3). В этой зоне для электронов нет разрешённых энергетических уровней с нужным набором квантовых чисел. Однако, согласно статистике ФермиДирака для невырожденного полупроводника энергетический уровень Фер- ми EF, представляющий электрохимический потенциал электронов, расположен в запрещён- ной зоне, где электроны находиться не могут. Это потому, что он лишь условно выражает плот- ность и усреднённую энергию квантовых состояний электронов, которые в действительности сосредоточены в зоне проводимости и в валентной зоне полупроводника. Ширина запрещённой зоны зависит от природы полупроводника и может изменяться от до- лей до нескольких эВ (см. таблицу 1). С ростом температуры она уменьшается по уравнению (эВ): ∆Еg = EC EV = ∆Еg0 αT 2 / (T + A), (1) где ∆Еg0 ширина запрещённой зоны полупроводника при Т = 0 К; α температурный коэффи- циент, α = d∆Eg / dT ≈ (5 ± 0,5)⋅104 эВ/К; А постоянная, которая зависит от природы полупро- водника. Для германия, кремния и арсенида галлия ∆Еg0 соответственно равна 0.744, 1.17 и 1.52 эВ; α 0.477, 0.473 и 0.540 мэВ/К; постоянная А 235, 636 и 204 К [2]. 5. Равновесные концентрации элект р о нов ипазонов В отличие от металлов в полупроводниках образование (генерация) носителей заряда может происходить разным образом, что показано в рисунках 2 и 3 и пояснениях к ним. Это, во-первых, образование отрицательно заряженных свободных электронов, которые движут- ся по междоузлиям кристаллической решётки (как в металлах), т. е. в зоне проводимости. Во-вторых, это образование положительно заряженных пазонов (дырок). Перенос тока ими эквивалентен и противоположен движению валентных электронов по дефектам (пазонам) в ковалентных связях, т. е. в валентной зоне. Отсюда два вида электрического тока: электрон- ный и пазонный (дырочный) ток, что позволяет различать два вида полупроводников. Генерация носителей заряда это переход электронов возбуждённых атомов на более высокие свободные энергетические уровни, что приводит к увеличению концентрации носите- лей заряда. Возбуждение электронов может происходить при повышении температуры по- лупроводника, т. е. при увеличении энергии колебаний атомов его кристаллической решётки, при облучении полупроводника светом и другими достаточно мощными видами излучений, при разрыве валентных связей в сильных электрических полях и т. п. Межзонная генерация сразу двух носителей тока: электрона и пазона, связанная с переходом электрона из валентной зоны в зону проводимости, называется биполярной генерацией (см. рисунки 2 и 3, случай а). Переход возбуждённых электронов от атомов донорной примеси в междоузлие кри- сталлической решётки (в зону проводимости) и валентных электронов атома полупроводника к ато- мам акцепторной примеси называется монополярной генерацией (см. рисунки 2 и 3, случаи б и в). 10
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 8
- 9
- 10
- 11
- 12
- …
- следующая ›
- последняя »