ВУЗ:
Составители:
48
лучается не трехслойным, а пятислойным. И это не предел. Для
понимания сложности структуры современного полупроводнико-
вого лазера для ВОСП на рис. 24 показан пример поперечной
структуры высокоскоростного лазера с использованием так назы-
ваемой многоквантоворазмерной активной области, полученной
методом газофазной эпитаксии [21].
0.2 µm P- In
0,53
Ga
0,47
As Layer
0.2 µm P-InP Layer
2.0 µm P-InP Layer
0.025 µm P-InGaAsP Layer
0.2 µm P-InP Layer
0.05 µm P-In
0,52
Al
0,48
As Layer
0.05 µm Волновод
6-10 nm 5~6QW/6~7 Barrier
0.1 µm Волновод
0.1 µm N- In
0,52
Al
0,48
As N-эмиттер
0.5 µm N-InP Буфер
100-200 µm N-InP Подложка
Рис. 24. Поперечная структура современного полупроводниково-
го лазера для ВОСП [21]
С целью оптимального использования в ВОСП различного
назначения в настоящее время разработаны самые разнообразные
конструкции полупроводниковых лазеров. Три из них [21] приве-
дены на рис. 25. Структура, показанная на рис. 25,а, отличается
повышенной мощностью излучения. Для этого кристалл перевер-
нули так, чтобы на металлическом основании находился слой p-
типа, что улучшает условия отвода тепла при работе прибора.
48 лучается не трехслойным, а пятислойным. И это не предел. Для понимания сложности структуры современного полупроводнико- вого лазера для ВОСП на рис. 24 показан пример поперечной структуры высокоскоростного лазера с использованием так назы- ваемой многоквантоворазмерной активной области, полученной методом газофазной эпитаксии [21]. 0.2 µm P- In0,53 Ga0,47 As Layer 0.2 µm P-InP Layer 2.0 µm P-InP Layer 0.025 µm P-InGaAsP Layer 0.2 µm P-InP Layer 0.05 µm P-In0,52 Al 0,48As Layer 0.05 µm Волновод 6-10 nm 5~6QW/6~7 Barrier 0.1 µm Волновод 0.1 µm N- In0,52 Al0,48 As N-эмиттер 0.5 µm N-InP Буфер 100-200 µm N-InP Подложка Рис. 24. Поперечная структура современного полупроводниково- го лазера для ВОСП [21] С целью оптимального использования в ВОСП различного назначения в настоящее время разработаны самые разнообразные конструкции полупроводниковых лазеров. Три из них [21] приве- дены на рис. 25. Структура, показанная на рис. 25,а, отличается повышенной мощностью излучения. Для этого кристалл перевер- нули так, чтобы на металлическом основании находился слой p- типа, что улучшает условия отвода тепла при работе прибора.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 46
- 47
- 48
- 49
- 50
- …
- следующая ›
- последняя »