Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование. Булыгина Е.В - 44 стр.

UptoLike

Рубрика: 

5
если туннельный ток IT падает в два раза при Z < 3 A, то острие рассматривается как очень
хорошее, если при Z < 10 A, то использование острия возможно для получения атомарного
разрешения на ВОПГ. Если же ток спадает в два раза при Z > 20 A, то этот зонд не может быть
использован и должен быть заменен.
Рис. 6.6. СТМ – I(z) Спектроскопия.
СТМ – I(v) cпектроскопия (or Current Imaging Tunneling Spectroscopy, CITS)
предполагает одновременное получение обычного изображения рельефа при фиксированных
значениях тока Io и напряжения смещения Vo. В каждой точке изображения обратная связь
разрывается, и напряжение смещения проходит ряд значений Vi при этом записываются
соответствующие значения тока Ii. Затем напряжение возвращается к Vo и обратная связь
включается снова.
Рис. 6.7. СТМ – I(v) Спектроскопия.
если туннельный ток IT падает в два раза при Z < 3 A, то острие рассматривается как очень
хорошее, если при Z < 10 A, то использование острия возможно для получения атомарного
разрешения на ВОПГ. Если же ток спадает в два раза при Z > 20 A, то этот зонд не может быть
использован и должен быть заменен.




                            Рис. 6.6. СТМ – I(z) Спектроскопия.

      СТМ – I(v) cпектроскопия (or Current Imaging Tunneling Spectroscopy, CITS)
предполагает одновременное получение обычного изображения рельефа при фиксированных
значениях тока Io и напряжения смещения Vo. В каждой точке изображения обратная связь
разрывается, и напряжение смещения проходит ряд значений Vi при этом записываются
соответствующие значения тока Ii. Затем напряжение возвращается к Vo и обратная связь
включается снова.




                            Рис. 6.7. СТМ – I(v) Спектроскопия.

                                                                                        5