Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование. Булыгина Е.В - 45 стр.

      Каждая I-V кривая может быть получена за несколько миллисекунд так что дрейф
положения зонда не оказывает существенного влияния. Эта процедура генерирует полное
токовое изображение Ii(x,y) для каждого значения напряжения Vi в дополнение к изображению
рельефа z(x,y)|VoIo. CITS значения могут быть использованы для расчета токового разностного
изображения DIVi,Vj(x,y) где Vi и Vj ограничивают частные поверхностные состояния,
производя реальное пространственное отображение поверхностных состояний с атомарным
разрешением. Эта методика может быть использована, например, в сверхвысоком вакууме для
отображения заполненных состояний адатомов или ненасыщенных связей для реконструкций
кремния.
       АСМ – атомная силовая микроскопия. В реальных условиях (в условиях окружающей
атмосферы) в воздухе практически всегда присутствует некоторая влажность и на поверхностях
образца и иглы присутствуют слои адсорбированной воды. Когда кантилевер достигает
поверхности образца возникают капиллярные силы, которые удерживают иглу кантилевера в
контакте с поверхностью и увеличивают минимально достижимую силу взаимодействия.
Электростатическое взаимодействие между зондом и образцом может проявляться довольно
часто. Оно может быть как притягивающим, так и отталкивающим. Ван дер Ваальсовы силы
притяжения, капиллярные, электростатические и силы отталкивания в точке, где зонд касается
образца, в равновесии уравновешиваются силой, действующей на кончик зонда со стороны
изогнутого кантилевера. Недостатки туннельного режима были преодолены с изобретением
Биннигом атомно-силового микроскопа.
       При взаимодействии с поверхностью образца макроскопическая гибкая консоль
(кантилевер) с острой иглой под действием атомных сил может быть изогнута на достаточно
большую величину, чтобы быть измеренной с помощью обычных средств. При работе в
Контактном методе изгиб кантилевера отражает отталкивающую силу и используется
непосредственно, в системе обратной связи или в их комбинации для отображения рельефа
поверхности.
       Наряду с отображением рельефа в процессе сканирования могут отображаться и другие
характеристики исследуемого образца. Если кантилевер с зондом являются проводящими
появляется возможность отображения сопротивления растекания образца. Если сканирование
проводится в направлении перпендикулярном продольной оси кантилевера (в латеральном
направлении) силы трения вызывают его скручивание. Измеряя это скручивание с помощью
четырехсекционного фотодетектора можно одновременно с отображением рельефа отображать
также и распределение сил трения по поверхности образца.




                                                                                        5