Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование. Булыгина Е.В - 47 стр.

гладком фоне.




                          Рис.6.9. АСМ – метод постоянной силы

    АСМ – метод латеральных сил позволяет различать области с различными
коэффициентами трения, а также подчеркивать особенности рельефа поверхности. Эти
возможности могут быть использованы одновременно с получением рельефа поверхности для
более полной характеризации исследуемого образца. При сканировании гладкой поверхности с
участками с различными коэффициентами трения угол скручивания меняется на каждом
участке. Это позволяет проводить измерения локальной силы трения. Если же поверхность не
гладкая, то такая интерпретация затруднена. Для того, чтобы различить участки с различными
коэффициентами трения и неоднородности рельефа необходимо использовать второй проход в
противоположном направлении. Кроме того измерения латеральных сил позволяют
относительно просто достигать атомарного разрешения на слюде и на других слоистых
материалах. Метод Латеральных Сил имеет важное значение при исследованиях
полупроводников, полимеров, пленочных покрытий, запоминающих сред, при изучениях
поверхностных загрязнений, химических особенностей и фрикционных характеристик, а также
постоянно растущий ряд новых применений. Физические основы Метода Латеральных Сил
заключаются в следующем. При сканировании по Методу Постоянной Силы перпендикулярно
продольной оси кантилевера помимо изгиба кантилевера в нормальном направлении
происходит также и его торсионный изгиб. Он обусловлен моментом силы действующей на
зонд. Для малых отклонений угол закручивания пропорционален поперечной (латеральной)
силе. Торсионное закручивание кантилевера измеряется оптической следящей системой
микроскопа.




                                                                                       5