Экономический анализ. Циндин Н.С - 55 стр.

UptoLike

Рубрика: 

55
ся непрерывные и дискретные шкалы. Они характеризуются минималь-
ным и максимальным количеством баллов, которыми может быть оценен
показатель. Верхняя и нижняя границы шкалы могут иметь как положи-
тельное, так и отрицательное значение. Так, показатели выполнения плана
по выпуску продукции, себестоимости могут оцениваться положительной
и отрицательной величинами, а, например, показатели травматизма
только
отрицательными величинами.
Дискретная шкала задает определенное число уровней оценок (бал-
лов), выбираются целочисленные балльные оценки.
В случае непрерывной шкалы оценки могут принадлежать любой
точке некоторого отрезка, который определяет шкалу данного показателя.
Затем следует построить вспомогательную матрицу В, где элементы
балльные оценки соответствующих показателей. Оценка R
i
каждого под-
разделения i вычисляются по формуле
=
==
n
j
iji
mibR
1
),1(
.
Критерий оценки наилучшего подразделения:
max R
i
(1
i
m).
4. Метод расстояний
В данном методе дополнительно требуется определить по имеющей-
ся информации подразделение-эталон. Это реально не существующее под-
разделение характеризуется наилучшими значениями по каждому показа-
телю среди всех имеющихся. Показатели подразделения-эталона х
0
стро-
ятся следующим образом:
х
j0
= max х
ij
(1
i
т) при
j
s = +1;
х
j0
= max х
ij
(1
i
т) при х = –1.
В каждом столбце матрицы Х находится наилучшее значение пока-
зателя; найденные значения образуют дополнительную строку чисел (х
01
,
х
02,
... х
0n
) – показателей подразделения-эталона.
Оценка R
i
каждого i-го подразделения вычисляется как квадрат рас-
стояния между двумя точками в m-мерном пространстве, координаты пер-
войэто значения показателей подразделения-эталона, а координаты вто-
ройпоказатели подразделений i R
i
определяется по формуле
.),1()(
2
0
==
n
j
ijjji
mixxkR
Чем больше k
j
, тем более значим показатель j, тем в большей степе-
ни отклонение от эталона будет влиять на общую суммарную оценку R
i
.
ся непрерывные и дискретные шкалы. Они характеризуются минималь-
ным и максимальным количеством баллов, которыми может быть оценен
показатель. Верхняя и нижняя границы шкалы могут иметь как положи-
тельное, так и отрицательное значение. Так, показатели выполнения плана
по выпуску продукции, себестоимости могут оцениваться положительной
и отрицательной величинами, а, например, показатели травматизма –
только отрицательными величинами.
      Дискретная шкала задает определенное число уровней оценок (бал-
лов), выбираются целочисленные балльные оценки.
      В случае непрерывной шкалы оценки могут принадлежать любой
точке некоторого отрезка, который определяет шкалу данного показателя.
Затем следует построить вспомогательную матрицу В, где элементы –
балльные оценки соответствующих показателей. Оценка Ri каждого под-
разделения i вычисляются по формуле
                                       n
                                Ri =   ∑ bij (i = 1, m) .
                                       j =1

     Критерий оценки наилучшего подразделения:
                            max R i (1 ≤ i ≤ m).

                          4. Метод расстояний
      В данном методе дополнительно требуется определить по имеющей-
ся информации подразделение-эталон. Это реально не существующее под-
разделение характеризуется наилучшими значениями по каждому показа-
телю среди всех имеющихся. Показатели подразделения-эталона х0 стро-
ятся следующим образом:
                  х 0 j = max х ij (1 ≤ i ≤ т) при s j = +1;
                  х 0 j = max х ij (1 ≤ i ≤ т) при х = –1.
         В каждом столбце матрицы Х находится наилучшее значение пока-
зателя; найденные значения образуют дополнительную строку чисел (х01,
х02, ... х0n) – показателей подразделения-эталона.
         Оценка Ri каждого i-го подразделения вычисляется как квадрат рас-
стояния между двумя точками в m-мерном пространстве, координаты пер-
вой – это значения показателей подразделения-эталона, а координаты вто-
рой – показатели подразделений i Ri определяется по формуле
                           n
                     Ri = ∑ k j ( x0 j − xij ) 2 (i = 1, m ).
                            j

      Чем больше kj, тем более значим показатель j, тем в большей степе-
ни отклонение от эталона будет влиять на общую суммарную оценку Ri.
                                              55