ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
66
Рис. 3.7. Схема компаратора
Рабочий эталон 1 длиной l
1
(рис. 3.7) сравнивается с объектом кон-
троля 2 длиной l
2
= l
1
+ ∆l. В исходном состоянии в перерекрестье оку-
ляров обоих микроскопов 3 и 4 находятся исходные точки (как на ри-
сунке). Смещением измерительного стола добиваются попадания в пе-
рекрестье левого микроскопа 3 конечной точки рабочего эталона. Далее
смещением микрометрического винта 5 окуляра правого микроскопа 4 с
перекрестьем этого микроскопа совмещают конечную точку объекта
контроля 2. По показаниям микрометрического винта определяют раз-
ность длин объекта контроля и эталона.
Высокую точность измерений перемещений позволяют получить
методы, основанные на применении оптоэлектрических преобразова-
телей и источников оптического излучения, например методы растра и
муара.
В методе растра используются две плоские пластины с параллель-
ными штрихами. Расстояние между штрихами на каждой пластине по-
стоянно, но для двух пластин незначительно отличается. При наложении
пластин (растров) друг на друга и их просвечивании наблюдаются зоны
сгущения и разряжения штрихов (рис. 3.8, а). Перемещение одного рас-
тра относительно другого в направлении, перпендикулярном штрихам,
вызывает перемещение указанных зон сгущения штрихов в том же на-
правлении, но значение этого перемещения у оказывается гораздо боль-
ше, чем значение измеряемого перемещения х, т.е. происходит оптиче-
ская редукция. Если расстояния между штрихами на пластинах равны а
и b (рис. 3.8, а), то
)/1( ab
x
y
−
=
.
l
1
l
2
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 64
- 65
- 66
- 67
- 68
- …
- следующая ›
- последняя »
