Управление процессами. Ефимов В.В - 113 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

132
Контрольная карта p n применяется для контроля в случаях, когда контроли-
руемым параметром является число дефектных изделий при постоянном объеме
выборки n.
На первых этапах статистических методов регулирования часто используются
гистограммы для предварительного исследования состояния технологического
процесса.
В отличие от оценки качества процессов с применением гистограмм, где на
качество активно влияла функция потерь качества, статистическое регулирование
качества процессов с использование карт Шухарта практически не пересекается с
функцией потерь качества и в настоящей работе не рассматривается.
4.5. Статистические методы регулирования качества технологических
процессов при контроле по количественному признаку
При контроле по количественному признаку об отклонениях в процессе судят
как по среднему значению контролируемого параметра, так и по рассеиванию зна-
чений контролируемого параметра относительно этого среднего. Смещение сред-
него значения в любую сторону относительно середины поля допуска и увеличе-
ние поля рассеяния приводят к увеличению доли дефектной продукции.
В качестве средних значений при статистическом регулировании используют
либо среднее арифметическое значение
X
, либо медиану
X
~
и соответственно
строят либо
X
– карту, либо
X
~
– карту. При выборе из этих двух видов контроль-
ных карт следует учитывать, что хотя и определение медианы проще, чем средне-
го арифметического значения, однако последнее является более точной оценкой
математического ожидания µ.
В качестве характеристики рассеяния при статистическом регулировании ис-
пользуют либо выборочное среднее квадратическое отклонение S, либо размах R и
соответственно строят либо S – карту, либо R – карту. При выборе карты можно
учесть, что вычисление размаха гораздо проще, чем среднего квадратичного от-
клонения, хотя S – более точная оценка, чем R.
На практике часто используют двойные контрольные карты, на одной из ко-
торых отмечают среднее значение, а на другой – характеристику рассеивания, на-
пример, карта
X
– R.
Для построения любой контрольной карты необходимо предварительно опре-
делить границы регулирования:
• для
X
– карты и
X
~
– карты – две границы регулирования: верхнюю и ниж-
нюю,
• для R – карты или S – карты вычисляют по одной границе регулирования –
верхней (так как достаточно следить лишь за увеличением рассеивания).

Страницы