ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Цель работы.
В работе изучается поляризованный свет полупроводникового лазера.
Определяются разрешенные направления поляроидов. Находится угол Брюстера
при падении лазерного света на стеклянную пластину. Определяется
коэффициент преломления стекла (ф.4). Проверяется справедливость закона
Малюса.
Принадлежности. Полупроводниковый лазер, излучающий в видимом
диапазоне длин волн λ = 670 нм, красный и мощностью излучения 1 мВт,
направляющая, набор рейтеров, подставка, стеклянная пластина во
вращающейся оправе с измерителем угла, экран для наблюдения с магнитами
для крепления бумаги, фотоприемное устройство с измерителем мощности
лазерного излучения и цифровым отсчетом.
Методика проведения. Область генерации полупроводникового лазера
представляет собой тонкую вытянутую щель. После прохождения специальной
оптики, встроенной в лазерный модуль, на выходе лазера область излучения
имеет вид излучающей щели, Длина щели в несколько раз больше ее ширины.
Это хорошо видно на экране наблюдения, если расширить пучок лазера с
помощью линзы (см. рис.7) и наблюдать за ним на экране. Лазерный модуль
вращают в оправе, в которой он закреплен. Модуль выставляют так, чтобы
светящаяся лазерная щель составляла с горизонтальной плоскостью стола угол
близкий к 45°. В этом положении лазерный модуль закрепляется. Собирается
схема опыта рис.6. Отраженное от пластин П лазерное излучение пройдя,
поляроид P
1
, падает на экран. Ведется визуальное наблюдение за яркостью
лазерного пятна на экране. Вращая отражающую пластину П и поляроид P
1
добиваются минимального освещения пятна на экране. Определяется угол
Брюстера. По углу Брюстера определяется коэффициент преломления
стеклянной пластинки.
В схеме на рис.6 снимается пластина П с оправой. Излучение лазера
посылается через поляроид P
2
на фотоприемное устройство.
Измеряется мощность лазерного излучения, прошедшего поляроид P
2
.
Вращением поляроида P
2
находится его положение, когда показания
измерителя максимальны. Это соответствует положению электрического
вектора в падающем лазерном излучении. В полупроводниковом лазере
лазерное излучение практически линейно поляризовано (эллиптичность -
Цель работы. В работе изучается поляризованный свет полупроводникового лазера. Определяются разрешенные направления поляроидов. Находится угол Брюстера при падении лазерного света на стеклянную пластину. Определяется коэффициент преломления стекла (ф.4). Проверяется справедливость закона Малюса. Принадлежности. Полупроводниковый лазер, излучающий в видимом диапазоне длин волн λ = 670 нм, красный и мощностью излучения 1 мВт, направляющая, набор рейтеров, подставка, стеклянная пластина во вращающейся оправе с измерителем угла, экран для наблюдения с магнитами для крепления бумаги, фотоприемное устройство с измерителем мощности лазерного излучения и цифровым отсчетом. Методика проведения. Область генерации полупроводникового лазера представляет собой тонкую вытянутую щель. После прохождения специальной оптики, встроенной в лазерный модуль, на выходе лазера область излучения имеет вид излучающей щели, Длина щели в несколько раз больше ее ширины. Это хорошо видно на экране наблюдения, если расширить пучок лазера с помощью линзы (см. рис.7) и наблюдать за ним на экране. Лазерный модуль вращают в оправе, в которой он закреплен. Модуль выставляют так, чтобы светящаяся лазерная щель составляла с горизонтальной плоскостью стола угол близкий к 45°. В этом положении лазерный модуль закрепляется. Собирается схема опыта рис.6. Отраженное от пластин П лазерное излучение пройдя, поляроид P1, падает на экран. Ведется визуальное наблюдение за яркостью лазерного пятна на экране. Вращая отражающую пластину П и поляроид P1 добиваются минимального освещения пятна на экране. Определяется угол Брюстера. По углу Брюстера определяется коэффициент преломления стеклянной пластинки. В схеме на рис.6 снимается пластина П с оправой. Излучение лазера посылается через поляроид P2 на фотоприемное устройство. Измеряется мощность лазерного излучения, прошедшего поляроид P2. Вращением поляроида P2 находится его положение, когда показания измерителя максимальны. Это соответствует положению электрического вектора в падающем лазерном излучении. В полупроводниковом лазере лазерное излучение практически линейно поляризовано (эллиптичность -
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 4
- 5
- 6
- 7
- 8
- …
- следующая ›
- последняя »