Физика и биофизика. Филимонова З.А. - 42 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

42
υ
c
n =
,
где с= 3 10
8
м/сскорость света в вакууме, υ - скорость электромагнитной волны в
среде.
Объемная плотность энергии электрического поля
2
2
0
Ew
rэ
εε
= .
Объемная плотность энергии магнитного поля
22
1
2
1
2
0
0
2
HB
BHw
r
r
m
μμ
μμ
=== .
Объемная плотность энергии электромагнитной волны
2
0
2
0
22
BEEH
BE
www
rroror
oror
mэ
μμεεμμεε
μ
μ
ε
ε
===+=+=
Плотность потока энергии волны (интенсивность волны)
υ
=
w
I
,
где υскорость волны.
2
4
R
t
E
I
= ,
гдевремя излучения Еэнергии электромагнитной волны точечного источника,
находящегося на расстоянии R.
Дифракционные явления
Основная формула дифракционной решетки (условие для главных максимумов)
Сsinφ=kλ
где k = 0,1,2 ... – порядок главных максимумов, Спостоянная (период) решетки.
Разрешающая способность дифракционной решетки
R=
kN=
Δ
λ
λ
где Δλ = (λ
1
λ
2
) – разность предельно разрешимых (различимых) длин волн; N -
число щелей решетки.
Предел разрешения микроскопа (при отражении света от объекта) при наклонном
падении света на объект
Aun
Z
λ
λ
5.0
)2sin(
5.0 ==
где λдлина волны в вакууме, n - показатель преломления среды, находящейся
между предметом и линзой объектива, u - угловая апертура (угол между крайними
лучами конического светового пучка, входящего в оптическую систему); А = nsin(u/2) –
числовая апертура.
Условие дифракционных максимумов при отражении рентгеновских лучей от
кристалла (формулы Вульфа-Брэггов):
2l sin
θ
κλ
=
,
где l - межплоскостное расстояние;
θ
- угол скольжение (угол между отражающей
плоскостью и падающими лучами);
κ
=1, 2, 3, ... – порядок спектра
                                                  42


                                                     c
                                                n=       ,
                                                     υ
где с= 3 108м/с – скорость света в вакууме, υ - скорость электромагнитной волны в
среде.
Объемная плотность энергии электрического поля
                                        wэ = ε rε 0 E 2 2 .
Объемная плотность энергии магнитного поля
                             1    1 B2       μ0 μ r H 2
                         wm = BH = ⋅       =            .
                             2    2 μ r μ0       2
Объемная плотность энергии электромагнитной волны
                      ε rε o E       μ r μo B
      w = wэ + wm =              +              = ε rε o μ r μo EH = ε rε 0 E 2 = μ r μ0 B 2
                         2              2
Плотность потока энергии волны (интенсивность волны)
                                    I = w ⋅υ ,
где υ – скорость волны.
                                                      E
                                            I=             ,
                                                 t ⋅ 4πR 2
где – время излучения Е – энергии электромагнитной волны точечного источника,
находящегося на расстоянии R.

                                     Дифракционные явления
     Основная формула дифракционной решетки (условие для главных максимумов)
                                           Сsinφ=kλ
     где k = 0,1,2 ... – порядок главных максимумов, С – постоянная (период) решетки.
     Разрешающая способность дифракционной решетки
                                                     λ
                                                R=      = kN
                                                     Δλ
     где Δλ = (λ1 – λ2 ) – разность предельно разрешимых (различимых) длин волн; N -
число щелей решетки.
     Предел разрешения микроскопа (при отражении света от объекта) при наклонном
падении света на объект
                                                       λ               λ
                                      Z = 0.5                  = 0.5
                                                 n sin(u 2)            A
     где λ – длина волны в вакууме, n - показатель преломления среды, находящейся
между предметом и линзой объектива, u - угловая апертура (угол между крайними
лучами конического светового пучка, входящего в оптическую систему); А = nsin(u/2) –
числовая апертура.
     Условие дифракционных максимумов при отражении рентгеновских лучей от
кристалла (формулы Вульфа-Брэггов):
                                  2l sinθ = κλ ,
где l - межплоскостное расстояние; θ - угол скольжение (угол между отражающей
плоскостью и падающими лучами); κ =1, 2, 3, ... – порядок спектра