ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
42
υ
c
n =
,
где с= 3 10
8
м/с – скорость света в вакууме, υ - скорость электромагнитной волны в
среде.
Объемная плотность энергии электрического поля
2
2
0
Ew
rэ
εε
= .
Объемная плотность энергии магнитного поля
22
1
2
1
2
0
0
2
HB
BHw
r
r
m
μμ
μμ
=⋅== .
Объемная плотность энергии электромагнитной волны
2
0
2
0
22
BEEH
BE
www
rroror
oror
mэ
μμεεμμεε
μ
μ
ε
ε
===+=+=
Плотность потока энергии волны (интенсивность волны)
υ
⋅
=
w
I
,
где υ – скорость волны.
2
4
R
t
E
I
π
⋅
= ,
где – время излучения Е – энергии электромагнитной волны точечного источника,
находящегося на расстоянии R.
Дифракционные явления
Основная формула дифракционной решетки (условие для главных максимумов)
Сsinφ=kλ
где k = 0,1,2 ... – порядок главных максимумов, С – постоянная (период) решетки.
Разрешающая способность дифракционной решетки
R=
kN=
Δ
λ
λ
где Δλ = (λ
1
– λ
2
) – разность предельно разрешимых (различимых) длин волн; N -
число щелей решетки.
Предел разрешения микроскопа (при отражении света от объекта) при наклонном
падении света на объект
Aun
Z
λ
λ
5.0
)2sin(
5.0 ==
где λ – длина волны в вакууме, n - показатель преломления среды, находящейся
между предметом и линзой объектива, u - угловая апертура (угол между крайними
лучами конического светового пучка, входящего в оптическую систему); А = nsin(u/2) –
числовая апертура.
Условие дифракционных максимумов при отражении рентгеновских лучей от
кристалла (формулы Вульфа-Брэггов):
2l sin
θ
κλ
=
,
где l - межплоскостное расстояние;
θ
- угол скольжение (угол между отражающей
плоскостью и падающими лучами);
κ
=1, 2, 3, ... – порядок спектра
42 c n= , υ где с= 3 108м/с – скорость света в вакууме, υ - скорость электромагнитной волны в среде. Объемная плотность энергии электрического поля wэ = ε rε 0 E 2 2 . Объемная плотность энергии магнитного поля 1 1 B2 μ0 μ r H 2 wm = BH = ⋅ = . 2 2 μ r μ0 2 Объемная плотность энергии электромагнитной волны ε rε o E μ r μo B w = wэ + wm = + = ε rε o μ r μo EH = ε rε 0 E 2 = μ r μ0 B 2 2 2 Плотность потока энергии волны (интенсивность волны) I = w ⋅υ , где υ – скорость волны. E I= , t ⋅ 4πR 2 где – время излучения Е – энергии электромагнитной волны точечного источника, находящегося на расстоянии R. Дифракционные явления Основная формула дифракционной решетки (условие для главных максимумов) Сsinφ=kλ где k = 0,1,2 ... – порядок главных максимумов, С – постоянная (период) решетки. Разрешающая способность дифракционной решетки λ R= = kN Δλ где Δλ = (λ1 – λ2 ) – разность предельно разрешимых (различимых) длин волн; N - число щелей решетки. Предел разрешения микроскопа (при отражении света от объекта) при наклонном падении света на объект λ λ Z = 0.5 = 0.5 n sin(u 2) A где λ – длина волны в вакууме, n - показатель преломления среды, находящейся между предметом и линзой объектива, u - угловая апертура (угол между крайними лучами конического светового пучка, входящего в оптическую систему); А = nsin(u/2) – числовая апертура. Условие дифракционных максимумов при отражении рентгеновских лучей от кристалла (формулы Вульфа-Брэггов): 2l sinθ = κλ , где l - межплоскостное расстояние; θ - угол скольжение (угол между отражающей плоскостью и падающими лучами); κ =1, 2, 3, ... – порядок спектра
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 40
- 41
- 42
- 43
- 44
- …
- следующая ›
- последняя »