Практическое руководство к лабораторным работам по коллоидной химии. Горбачук В.В - 75 стр.

UptoLike

λ
1
2
χ
ККМ
λ(χ)
C
1/2
(C)
Рис. 2. Кривые зависимости эквивалентной (λ) и удельной
электропроводности (χ) от концентрации раствора ПАВ: 1 - λ от С
1/2
; 2
- χ от С.
Резкий излом в падающей ветви кривой 1 вызван тем, при этой
концентрации (порядка нескольких миллимолей на литр) начинается
формирование ионных мицелл, сопровождающееся образованием
облаков из противоионов, связанных с мицеллами. Подвижность
поверхностно-активных ионов, общее число проводящих частиц и заряд
в системе при этом уменьшаются и эквивалентная электропроводность
понижается при возрастании концентрации легче, чем до ККМ.
Последующее возрастание электропроводности после минимума этой
кривой (1) объясняется освобождением части противоионов в результате
перекрывания ионных атмосфер при сближении мицелл с увеличением
их размеров с ростом концентрации ПАВ.
lgKKM
1
lgKKM
2
lg
χ
lgC
Рис. 3. Графическое определение ККК
1
и ККМ
2
.
Таким образом, графическая обработка результатов измерений
позволяет определить, во-первых, ККМконцентрацию, отвечающую
началу образования мицелл (при этом точка излома особенно резко
выражена на графике зависимости χ от С (рис.2, кривая 2); во-вторых
ККМ
2
- концентрацию, при которой происходит перекрывание двойных
               λ(χ)     λ
                                       2



                       χ
                                      1



                            ККМ   C1/2 (C)

       Рис. 2. Кривые зависимости эквивалентной (λ) и удельной
электропроводности (χ) от концентрации раствора ПАВ: 1 - λ от С1/2; 2
- χ от С.

      Резкий излом в падающей ветви кривой 1 вызван тем, при этой
концентрации (порядка нескольких миллимолей на литр) начинается
формирование ионных мицелл, сопровождающееся          образованием
облаков из противоионов, связанных с мицеллами. Подвижность
поверхностно-активных ионов, общее число проводящих частиц и заряд
в системе при этом уменьшаются и эквивалентная электропроводность
понижается при возрастании концентрации легче, чем до ККМ.
Последующее возрастание электропроводности после минимума этой
кривой (1) объясняется освобождением части противоионов в результате
перекрывания ионных атмосфер при сближении мицелл с увеличением
их размеров с ростом концентрации ПАВ.

             lgχ




                      lgKKM1 lgKKM2   lgC

            Рис. 3. Графическое определение ККК1 и ККМ2.
      Таким образом, графическая обработка результатов измерений
позволяет определить, во-первых, ККМ — концентрацию, отвечающую
началу образования мицелл (при этом точка излома особенно резко
выражена на графике зависимости χ от С (рис.2, кривая 2); во-вторых
ККМ2 - концентрацию, при которой происходит перекрывание двойных