Диагностика нанопорошков и наноматериалов. Ильин А.П - 20 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТПУ | Томск

Составители: 

Рубрика: 

Для определения параметров элементарной ячейки в качестве ана-
литических линий были выбраны рефлексы от плоскостей с индексами
Миллера (400), (331), (422) и величинами межплоскостных расстояний
соответственно 1,0124; 0,9289; 0,8622 Å [24].
Расчет параметров элементарной ячейки выполнялся по квадратич-
ной форме для кристаллов кубической сингонии:
, (1.1)
22222
sin /(4 ) ( )dhkl
θλ
= ⋅ + +
2
где
θ
– угол отражения;
λ
– длина волны используемого излучения;
d – параметр элементарной ячейки; h, k, l – индексы отражения, с при-
влечением аналитической экстраполяции к
θ
= 90 методом наименьших
квадратов (метод Когена).
Через ряд преобразований квадратичной формы пришли к нор-
мальным уравнениям
2
0
111
sin
iii
iiii
AD
2
i
α
αδ α θ
+ =
∑∑∑
; (1.2)
22
0
111
sin
iii
ii i i
AD
2
α
δδδ
+ =
∑∑∑
θ
, (1.3)
где ; – сумма квадратов индексов всех линий, ис-
222
ii ii
hkl
α
=++
1
i
∑
пользуемых при расчете;
2
10sin (2 / )
iii
δ
θθ
=
– для линий в большом
интервале углов;
0
A
и
D
– постоянные; – каждая интерференцион-i
ная линия.
Из системы уравнений необходимо найти
0
A
. Т. к.
2
2
0
(4 )
A
λ
λ
=
,
можно определить параметр элементарной ячейки
. Точность опреде-
ления параметра элементарной ячейки по данной методике составля-
ет ± 0,0002 нм.
Исследования показали, что наблюдается увеличение параметра кри-
сталлической решетки НП алюминия по сравнению с АСД-4 (0,40502 нм)
и алюминием в массивном состоянии (0,40496 нм).
Причем это увеличение зависело от природы газовой среды сле-
дующим образом:
Аl(Н
2
) – 0,40515 – 0,40519 нм;
Al(Аr) – 0,40507 – 0,40518 нм;
А1(Хе) – 0,40523 нм.
Предполагается, что увеличение параметра решетки исследуемых
порошков может быть связано с внедрением в них инертных газов и во-
20

Страницы