Дислокации в кристаллах и их наблюдение. Иванов К.Н. - 5 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

Номер границы 1 2 3 4 5
Среднее расстояние между
ямками травления
Д
1
Д
2
Д
3
Д
4
Д
5
Угол разориентировки φ
1
φ
2
φ
3
φ
4
φ
5
4. Следующий этап работы состоит в определении плотности
дислокаций, т.е. количества выходов дислокаций, приходящихся в
среднем на 1 см
2
поверхности образца. При этом проводится учет
только тех ямок травления, которые не связаны с полосами скольжения
и не составляют границ зерен.
Для каждого из протравленных кристаллов подсчитывают коли-
чество ямок травления, видимых в поле зрения микроскопа. Для этого
выбирают десять - двадцать участков в различных местах поверхности
каждого из кристаллов, определяют с помощью объекта-микрометра
площадь видимой поверхности кристалла.
Плотность дислокаций подсчитывают по формуле:
mA
N
С
i
i
=
где N
i
, - количество ямок травления на i-м участке кристалла; А -
площадь поверхности кристалла, видимая в поле зрения микроскопа; т
-количество участков, на которых произведен подсчет ямок травления.
5. Определение порогового напряжения скольжения дислокации
по розетке.
Поверхность одного из свежесколотых образцов подвергают
уколу иглой устройства нагружения (следует нанести несколько
уколов в разных участках кристаллика).
Образец травится и обрабатывается так, как это было описано,
сушка осуществляется фильтровальной бумагой и естественным
испарением и переносится на столик микроскопа. Находят место укола
и сравнивают картину поверхности кристалла вокруг места укола с
рис.7.
Пользуясь объектом - микрометром, измеряют или оценивают
размеры площадки укола за которую принимают площадь пересе-
кающихся лучей розетки укола и расстояние от центра укола до наибо-
лее удаленного выхода на поверхности образовавшихся в результате
укола дислокационных петель.
Зная силу нагружения иглы находят среднее давление или напря-
жение в зоне укола. Считая, что напряжение сдвига за пределами пло-
щадки укола изменяется по закону:
3
=
r
r
r
o
o
σσ
оценивают пороговое напряжение сдвига, необходимое для
перемещения дислокации.
Где σ
r
- напряжение на расстоянии r (конечная точка лучей
розетки укола) от центра приложения силы; σ
- напряжение сдвига на
границе сферы радиуса r
0
(на границе зоны укола).
6. Теоретическая прочность твердых тел.
Вычисление σ
0
из сил молекулярного взаимодействия.
Рассмотрим схему расчета теоретической прочности твердых теп
из сил молекулярного взаимодействия. На рис.7 показана кривая изме-
нения потенциальной энергии U(x) и силы взаимодействия f(х) между
частицами твердого тела с изменением расстояния между ними.
Зависимость f(х) Поляни и Орован аппроксимировали половиной
синусоиды вида f(х) = f
m
• Sin
с
х
π
2
.
При медленном разъединении тела на две части по сечению 1м
2:
требуется усилие σ =fּN
s
, где N
s
- число частиц на 1 м
2
поперечного
сечения. Подставив сюда f(х), получим σ = σ
• Sin
с
х
π
2
, где
σ
=f
m
N
s
представляет собой теоретическую прочность тела.
При малых смешениях х, σ можно переписать в виде σ
= σ
с
х
π
2
, при этом также должен выполняться закон Гука σ =
с
Ех
.
Определим из этих уравнений
Е
Е
1,0
2
π
σ
.
Вычисление различными методами (3) приводит к
незначительным изменениям, поэтому можно считать
Е1,0
σ
. Эта
величина по порядку равная 10
9
-10
10
Па. Например, для каменной соли
Е=4000ּ10
7
Па, а
7
104001,0 = Е
σ
Па, а реальная прочность
7
105,0
р
σ
Па. Прочность реальных кристаллов и твердых тел,
используемых в технике, называют реальной или технической
прочностью σ
р
. Для каменной соли σ
р
=0,5ּ10
7
Па, отношение
800=
р
σ
σ
o
.
        Номер границы            1        2       3      4      5                                                               3
                                                                                                                         r 
   Среднее расстояние между      Д1      Д2      Д3      Д4     Д5                                             σr = σo o 
       ямками травления                                                                                                  r
     Угол разориентировки        φ1      φ2      φ3     φ4      φ5               оценивают пороговое напряжение сдвига, необходимое для
                                                                           перемещения дислокации.
      4. Следующий этап работы состоит в определении плотности
                                                                                 Где σr - напряжение на расстоянии r (конечная точка лучей
дислокаций, т.е. количества выходов дислокаций, приходящихся в
                                                                           розетки укола) от центра приложения силы; σ◦- напряжение сдвига на
среднем на 1 см2 поверхности образца. При этом проводится учет
                                                                           границе сферы радиуса r0 (на границе зоны укола).
только тех ямок травления, которые не связаны с полосами скольжения
                                                                                 6. Теоретическая прочность твердых тел.
и не составляют границ зерен.
                                                                                 Вычисление σ0 из сил молекулярного взаимодействия.
      Для каждого из протравленных кристаллов подсчитывают коли-
                                                                                 Рассмотрим схему расчета теоретической прочности твердых теп
чество ямок травления, видимых в поле зрения микроскопа. Для этого
                                                                           из сил молекулярного взаимодействия. На рис.7 показана кривая изме-
выбирают десять - двадцать участков в различных местах поверхности
                                                                           нения потенциальной энергии U(x) и силы взаимодействия f(х) между
каждого из кристаллов, определяют с помощью объекта-микрометра
                                                                           частицами твердого тела с изменением расстояния между ними.
площадь видимой поверхности кристалла.
                                                                           Зависимость f(х) Поляни и Орован аппроксимировали половиной
      Плотность дислокаций подсчитывают по формуле:
                                      ∑ Ni                                                                    2πх
                                                                           синусоиды вида f(х) = fm • Sin         .
                                 С=    i
                                                                                                               с
                                       mA                                        При медленном разъединении тела на две части по сечению 1м2:
       где Ni, - количество ямок травления на i-м участке кристалла; А -   требуется усилие σ =fּNs, где Ns- число частиц на 1 м2 поперечного
площадь поверхности кристалла, видимая в поле зрения микроскопа; т                                                                            2πх
-количество участков, на которых произведен подсчет ямок травления.        сечения.    Подставив       сюда     f(х),   получим σ = σ◦• Sin       , где
       5. Определение порогового напряжения скольжения дислокации                                                                              с
по розетке.                                                                σ◦=fmNs представляет собой теоретическую прочность тела.
       Поверхность одного из свежесколотых образцов подвергают                   При малых смешениях х, σ можно переписать                     в   виде σ
уколу иглой устройства нагружения (следует нанести несколько                    2πх                                                    Ех
уколов в разных участках кристаллика).                                     = σ◦     , при этом также должен выполняться закон Гука σ =    .
       Образец травится и обрабатывается так, как это было описано,
                                                                                 с                                                     с
сушка осуществляется фильтровальной бумагой и естественным                                                  Е
                                                                           Определим из этих уравнений σ ≈    ≈ 0,1Е .
испарением и переносится на столик микроскопа. Находят место укола                                         2π
и сравнивают картину поверхности кристалла вокруг места укола с                  Вычисление     различными      методами    (3)    приводит   к
рис.7.                                                                     незначительным изменениям, поэтому можно считать σ ≈ 0,1Е . Эта
       Пользуясь объектом - микрометром, измеряют или оценивают
размеры площадки укола за которую принимают площадь пересе-                величина по порядку равная 109 -1010 Па. Например, для каменной соли
кающихся лучей розетки укола и расстояние от центра укола до наибо-        Е=4000ּ107 Па, а         σ ≈ 0,1Е = 400 ⋅107 Па,         а реальная прочность
лее удаленного выхода на поверхности образовавшихся в результате
укола дислокационных петель.                                               σ р ≈ 0,5 ⋅10   7
                                                                                               Па. Прочность реальных кристаллов и твердых тел,
       Зная силу нагружения иглы находят среднее давление или напря-       используемых в технике, называют реальной или технической
жение в зоне укола. Считая, что напряжение сдвига за пределами пло-        прочностью σр. Для каменной соли σр=0,5ּ107 Па, отношение
щадки укола изменяется по закону:                                          σo
                                                                                σ р = 800 .