Проектирование СВЧ устройств. Иванов Б.П. - 52 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

52
Лабораторная работа № 4
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
РАДИОПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ В ДИАПАЗОНЕ СВЧ
1. Задачи, решаемые в работе: изучение различных методов определения
диэлектрической проницаемости твердых диэлектрических материалов в
диапазоне СВЧ.
2. Методы измерений диэлектрической проницаемости
Радиопрозрачные диэлектрики используются в различных устройствах,
узлах и элементах СВЧ радиоэлектронной аппаратуры. Они применяются в
качестве антенных обтекателей и радиопрозрачных укрытий, подложек
интегральных микросхем, конструктивных элементов коаксиальных линий
передачи, элементов фазовращателей, аттенюаторов, антенных решеток и др.
Во всех случаях важнейшим параметром этих материалов является
относительная диэлектрическая проницаемость
ε
.
У большинства диэлектрических материалов (особенно имеющих потери)
диэлектрическая проницаемость зависит от частоты. При изготовлении СВЧ
устройств, узлов и элементов, особенно в диапазоне сантиметровых и милли-
метровых волн, разбросы диэлектрической проницаемости от партии к партии
приводят к необходимости производственного контроля материала. В зависи-
мости от требований изделия контроль должен осуществляться с различной
степенью точности.
Основные методы контроля диэлектрической проницаемости можно под-
разделить на три класса: резонансные, волноводные, квазиоптические [1].
2.1. Резонансные методы
Резонансные методы по своей сущности являются наиболее точными. В
настоящее время известно много таких методов, основанных на измерении
параметров резонаторов полностью или частично заполненных диэлектриком.
Идея резонансных методов состоит в измерении резонансной частоты и
добротности резонатора, а затем из полученных данных вычисления
параметров размещённых в резонаторе диэлектрических образцов.
Задача определения диэлектрической проницаемости сводится к
решению уравнений электромагнитного поля для той или иной конфигурации
резонатора и учету влияния на это поле исследуемого диэлектрика. Строго эта
задача решена в настоящее время для ограниченного числа резонаторов
простейшей формы. Для приближенного решения отыскиваемых зависимостей
широко применяется метод малых возмущений. Этот метод основан на том, что
при внесении в полость резонатора образца диэлектрика небольшого
относительного объема δV происходит также небольшое изменение его
первоначальных параметров, причем вводится допущение, что при малом

Страницы