Измерение диэлектрических потерь в гетерогенных объектах в диапазоне 3 см. - 2 стр.

UptoLike

Рубрика: 

Измерение диэлектрических потерь (тангенса потерь
δ
tg или мнимой
части диэлектрической проницаемости
) на сверхвысоких частотах широко
применяется для исследования изоляционных свойств материалов,
применяемых в радиотехнических устройствах и электроприборах.
''
ε
Однако этот метод может с успехом быть использован также для
определения электропроводности неоднородных и гетерогенных материалов,
для которых применение обычных «контактных» низкочастотных методов
измерения встречается с серьезными трудностями. Биологические материалы
(плёнки, порошки, концентрированные взвеси
биологически важных веществ и
препараты тканей и клеток) относятся к этому классу материалов. Поэтому
бесконтактные сверхвысокочастотные (СВЧ) методы определения электронной
проводимости фотопроводимости представляют большой интерес для
биофизики. Обычно в работах по физическим методам исследования
используются два участка из области СВЧ: диапазон 30 см (частота 1 ГГц) и
диапазон 3 см (частота 10 ГГц). Эти
диапазоны имеют свои характерные
особенности как в техническом отношении, так и своим физическим
возможностям в интерпретации регистрируемых свойств объекта исследования.
В данной работе описывается устройство и применение установки для
регистрации диэлектрических потерь и их изменения при освещении образца,
работающей в 3-х сантиметровом диапазоне.
Установка использует резонаторный метод измерения, при котором
образец
вносится в колебательный контур, представляющий собой объемный
резонатор замкнутого типа высокой добротности. Этот метод позволяет
проводить измерения с малым количеством материала, что очень важно,
учитывая дефицитность биологического вещества. Резонатор представляет
собой полый цилиндр с металлическими стенками. Стенки полости покрыты
тонким слоем серебра для уменьшения омических потерь в стенках. Через
отверстия
в боковых стенках резонатор связан с волноводом трактом таким
образом, что в нем возбуждается колебания типа
. Схематический разрез
резонатора показан на рис.1
Μ
H
     Измерение диэлектрических потерь (тангенса потерь tgδ или мнимой
части диэлектрической проницаемости ε ) на сверхвысоких частотах широко
                                      ''

применяется для исследования изоляционных свойств материалов,
применяемых в радиотехнических устройствах и электроприборах.
     Однако этот метод может с успехом быть использован также для
определения электропроводности неоднородных и гетерогенных материалов,
для которых применение обычных «контактных» низкочастотных методов
измерения встречается с серьезными трудностями. Биологические материалы
(плёнки, порошки, концентрированные взвеси биологически важных веществ и
препараты тканей и клеток) относятся к этому классу материалов. Поэтому
бесконтактные сверхвысокочастотные (СВЧ) методы определения электронной
проводимости фотопроводимости представляют большой интерес для
биофизики. Обычно в работах по физическим методам исследования
используются два участка из области СВЧ: диапазон 30 см (частота 1 ГГц) и
диапазон 3 см (частота 10 ГГц). Эти диапазоны имеют свои характерные
особенности как в техническом отношении, так и своим физическим
возможностям в интерпретации регистрируемых свойств объекта исследования.
     В данной работе описывается устройство и применение установки для
регистрации диэлектрических потерь и их изменения при освещении образца,
работающей в 3-х сантиметровом диапазоне.
     Установка использует резонаторный метод измерения, при котором
образец вносится в колебательный контур, представляющий собой объемный
резонатор замкнутого типа высокой добротности. Этот метод позволяет
проводить измерения с малым количеством материала, что очень важно,
учитывая дефицитность биологического вещества. Резонатор представляет
собой полый цилиндр с металлическими стенками. Стенки полости покрыты
тонким слоем серебра для уменьшения омических потерь в стенках. Через
отверстия в боковых стенках резонатор связан с волноводом трактом таким
образом, что в нем возбуждается колебания типа H Μ . Схематический разрез
резонатора показан на рис.1