Составители:
Рубрика:
52
на микроскопическом изображении, но и к окрашиванию поверхности, наличие рельефа по-
верхности, при отражении от которого излучение выходит за пределы угловой апертуры мик-
рообъектива и не возвращается в микроскоп, в результате чего участок поверхности выглядит
темным.
Зачастую по микроскопическому изображению сложно разделить влияние тех или иных
причин, приведших к формированию наблюдаемого в нем распределения освещенности. Более
того, так называемые фазовые неоднородности объекта, изменяющие только фазу светового
поля в изображении, не изменяют его освещенность. Это послужило одной из причин для раз-
работки ряда методов контрастирования микроскопических изображений, таких как метод фа-
зового контраста, флуоресцентная микроскопия, метод темного поля и метод интерференцион-
ной микроскопии.
Микроскопическое изображение, получаемое посредством светового микроскопа, пред-
ставляет собой двумерное распределение отражающей способности по поверхности образца
(или пропускания, если используется схема в проходящем свете и прозрачный объект), при
этом теряется существенная часть информации об этой поверхности – информация о рельефе.
По микроскопическому изображению можно сделать лишь общие качественные выводы о ха-
рактере рельефа, но сказать, какова высота какого-либо участка поверхности относительно дру-
гого нельзя.
Причина этого заключается в том, что микроскопическое изображение в основном несет
информацию о том, какая доля энергии отразилась от того или иного участка поверхности объ-
екта и достаточно грубо позволяет определить рельеф поверхности - насколько далеко, или
близко этот участок располагается.
Идея, положенная в основу интерференционного микроскопа, заключается в том, чтобы
при помощи светового микроскопа не только получить увеличенное изображение поверхности
объекта, но и восстановить рельеф этой поверхности. Иными словами необходимо обеспечить в
микроскопе регистрацию не только амплитуды отраженной от объекта световой волны, но и ее
фазы.
Эту операцию можно осуществить, воспользовавшись явлением интерференции свето-
вых полей. Для этого необходимо обеспечить наличие опорной волны, с которой будет сравни-
ваться волна, отраженная от объекта. Для создания опорной волны понадобится еще один мик-
рообъектив идентичный микрообъективу MO и зеркало, которые следует расположить так, как
показано на рис. 2. По сути, это два микроскопа с общим тубусом. Один формирует изображе-
ние поверхности объекта, второй – изображение поверхности опорного зеркала M. Важной де-
талью является то, что у этих двух микроскопов один источник излучения S и, следовательно,
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 50
- 51
- 52
- 53
- 54
- …
- следующая ›
- последняя »
