Неразрушающие методы контроля. Каневский И.Н - 59 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ДВФУ | Владивосток

Составители: 

Рубрика: 

116 117
мальным. Из рис. 6.5 видно, что при увеличении
∞
→
β
0
1–L
вн
→
, а
0
→
R
вн
.
Анализируя годографы, выбирают оптимальную рабочую
частоту, конструкцию датчика, измерительную схему, приемы
контроля, обеспечивающие необходимую чувствительность
прибора к проверяемому параметру и полное или частичное снятие
влияния изменений неконтролируемых свойств.
Основное влияние на вид годографов оказывает та часть
вихревых токов, которая протекает в слоях, ближе всего располо-
женных к измерительной обмотке датчика. Фазы вихревых токов
вблизи обмотки для накладных и проходных датчиков на одной и
той же частоте могут значительно отличаться, поэтому годографы
для различных групп датчиков различаются между собой. В пре-
делах каждой группы датчиков годографы F(у), F(м), близки по
форме.
Рис. 6.5. Годограф накладного датчика: изменение в комплексной
плоскости нормированных вносимых активного
и индуктивного сопротивлений витка
Рис. 6.6. Годографы сигналов накладных (а) и проходных (б, в) датчиков
при изменении параметра в: , ,
Lo – собственная индуктивность датчика
щ
щ
щ
мальным. Из рис. 6.5 видно, что при увеличении β 0 → ∞
L вн → –1, а R вн → 0 .
      Анализируя годографы, выбирают оптимальную рабочую
частоту, конструкцию датчика, измерительную схему, приемы
контроля, обеспечивающие необходимую чувствительность
прибора к проверяемому параметру и полное или частичное снятие




                                                                         Рис. 6.6. Годографы сигналов накладных (а) и проходных (б, в) датчиков
влияния изменений неконтролируемых свойств.




                                                                                                                                                  щ ,
                                                                                                                                                  щ

                                                                                                                                                                                Lo – собственная индуктивность датчика
                                                                                                                                                    ,
                                                                                                                                                               щ
                                                                                                                                                   при изменении параметра в:
  Рис. 6.5. Годограф накладного датчика: изменение в комплексной
           плоскости нормированных вносимых активного
                 и индуктивного сопротивлений витка


      Основное влияние на вид годографов оказывает та часть
вихревых токов, которая протекает в слоях, ближе всего располо-
женных к измерительной обмотке датчика. Фазы вихревых токов
вблизи обмотки для накладных и проходных датчиков на одной и
той же частоте могут значительно отличаться, поэтому годографы
для различных групп датчиков различаются между собой. В пре-
делах каждой группы датчиков годографы F(у), F(м), близки по
форме.

                               116                                 117

Страницы