ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
16
зона-зонным светом из области максимумов гашения фотопроводимости,
который переводит дырки с центров рекомбинации в валентную зону.
Это означает, что для протекания ФХР необходимы свободные
дырки. А они, как известно, захватываются в основном центрами
рекомбинации. То есть перезаряжающимися дефектами являются центры
рекомбинации.
Рис. 1.7. Спектр возбуждения реакции распада ДА-пар. Зависимость
изменения интенсивности люминесценции с λ = 540 нм (кривая 1),
связанной с рекомбинацией носителей в ДА-паре, и интенсивности полосы
с λ = 522 нм (кривая 2), связанной с захватом свободного электрона
изолированным акцептором, от длины волны света, используемого для
проведения реакции
1.10. Методы выявления рекомбинационно-стимулированных
процессов (РСП)
Одной из наиболее важных проблем, возникающих при изучении
механизмов ФХР, является проблема выявления РСП, т. е. процессов,
состоящих в передаче дефекту энергии электронного возбуждения при
безызлучательном захвате на него носителя заряда. Такие процессы могут
приводить к ускорению диффузии точечных дефектов или облегчать
диссоциацию комплексов из-за дополнительного возбуждения
колебательных степеней свободы. Остановимся на некоторых методах их
выявления.
В полупроводниках типа А
III
B
V
, где наличие рекомбинационно-
стимулированной диффузии (РСД) считалось установленным
экспериментально, использовали два способа перезарядки: центр
перезаряжался либо за счет термического выброса из него носителя
(например, при изменении напряжения на p-n переходе), либо при
0,7 0,9 1,1 1,3 1,5
λ
, мкм
1
-1
∆
J
л
, отн. ед.
1
2
зона-зонным светом из области максимумов гашения фотопроводимости,
который переводит дырки с центров рекомбинации в валентную зону.
Это означает, что для протекания ФХР необходимы свободные
дырки. А они, как известно, захватываются в основном центрами
рекомбинации. То есть перезаряжающимися дефектами являются центры
рекомбинации.
∆Jл, отн. ед.
1
2
λ, мкм
0,7 0,9 1,1 1,3 1,5
1
-1
Рис. 1.7. Спектр возбуждения реакции распада ДА-пар. Зависимость
изменения интенсивности люминесценции с λ = 540 нм (кривая 1),
связанной с рекомбинацией носителей в ДА-паре, и интенсивности полосы
с λ = 522 нм (кривая 2), связанной с захватом свободного электрона
изолированным акцептором, от длины волны света, используемого для
проведения реакции
1.10. Методы выявления рекомбинационно-стимулированных
процессов (РСП)
Одной из наиболее важных проблем, возникающих при изучении
механизмов ФХР, является проблема выявления РСП, т. е. процессов,
состоящих в передаче дефекту энергии электронного возбуждения при
безызлучательном захвате на него носителя заряда. Такие процессы могут
приводить к ускорению диффузии точечных дефектов или облегчать
диссоциацию комплексов из-за дополнительного возбуждения
колебательных степеней свободы. Остановимся на некоторых методах их
выявления.
В полупроводниках типа АIIIBV, где наличие рекомбинационно-
стимулированной диффузии (РСД) считалось установленным
экспериментально, использовали два способа перезарядки: центр
перезаряжался либо за счет термического выброса из него носителя
(например, при изменении напряжения на p-n переходе), либо при
16
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 14
- 15
- 16
- 17
- 18
- …
- следующая ›
- последняя »
