Составители:
Рубрика:
19
Используя
соотношения
(1.24),
можно
вычислить
коэффициенты
отражения
(
R
s
,
R
p
)
и
пропускания
(
T
s
,
T
p
)
s
-
и
p
-
поляризованных
компонент
излучения
,
а
затем
определить
истинные
спектральные
характеристики
интерференционного
покрытия
.
Если
падающий
свет
не
поляризован
,
то
коэффициенты
отражения
и
пропускания
вычисляются
по
формулам
:
R
=(
R
p
+
R
s
)/2,
T
=(
T
p
+
T
s
)/2. (1.25)
При
эллиптической
поляризации
падающего
излучения
с
относительными
амплитудами
а
p
и
а
s
используются
формулы
R
=(
а
p
2
R
p
+
а
s
2
R
s
) / (
а
p
2
+
а
s
2
),
T
=(
а
p
2
T
p
+
аs
2
T
s
) / (
а
p
2
+
а
s
2). (1.26)
В
общем
случае
при
наклоне
плоскости
поляризации
падающей
волны
к
плоскости
падения
под
углом
δ
:
R
=
R
p
cos2
δ
+
R
s
sin2
δ
,
T
=
T
p
cos2
δ
+
T
s
sin2
δ
. (1.27)
Все
соотношения
для
расчета
оптических
характеристик
ИП
выведены
на
основе
математической
модели
,
описанной
ранее
в
разделе
1.1.
1.4. Метод эквивалентных слоев
Характеристические
матрицы
одиночного
слоя
(1.16)
и
симметричной
комбинации
пленок
имеют
равные
диагональные
элементы
.
Перемножая
две
характеристические
матрицы
слоев
с
различными
показателями
преломления
и
толщинами
A
и
В
,
можно
убедиться
в
том
,
что
матрица
произведения
С
имеет
неравные
диагональные
элементы
.
Если
матрицу
С
умножить
на
матрицу
A
,
то
матрица
АВА
,
так
же
как
и
характеристическая
матрица
одиночного
слоя
,
имеет
равные
диагональные
элементы
.
Можно
показать
[3],
что
матрица
М
sys
,
являющаяся
произведением
любой
симметричной
комбинации
вида
ABCD
...
DCBA,
имеет
равные
диагональные
элементы
.
Матрице
М
sys
можно
придать
вид
матрицы
одиночного
слоя
,
если
ввести
следующие
величины
:
эквивалентную
фазовую
толщину
Φ
E
=arccos{
m
11
} (1.28)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 17
- 18
- 19
- 20
- 21
- …
- следующая ›
- последняя »
