Составители:
Рубрика:
46
Рассмотрим
систему
,
образованную
из
двух
зеркал
,
каждое
из
которых
состоит
из
трёх
слоёв
(
ВНВ
).
Для
того
чтобы
такая
система
имела
максимальное
пропускание
,
нужно
ввести
разделительный
полуволновой
слой
(
ВНВ
2
НВНВ
).
В
качестве
разделительного
помещается
не
один
слой
с
низким
показателем
преломления
,
как
это
традиционно
делается
,
а
диэлектрическая
система
полуволновых
слоёв
(…2
Н
2
В
2
Н
2
В
2
Н
2
В
2
Н
.…).
Такая
полуволновая
система
,
помещённая
между
двумя
зеркалами
,
будет
вести
себя
аналогичным
образом
,
поскольку
она
описывается
единичной
матрицей
(
рис
. 1.17).
Эта
система
будет
вести
себя
в
окрестностях
λ
0
как
один
полуволновой
слой
,
расположенный
между
двумя
зеркалами
.
Это
довольно
простой
путь
,
который
позволяет
существенным
образом
уменьшить
полуширину
интерференционного
светофильтра
.
Контрастность
будет
определяться
коэффициентом
отражения
зеркал
,
которые
сюда
входят
,
а
полуширина
светофильтра
существенно
уменьшается
,
и
можно
легко
выделять
любой
заданной
интервал
спектра
.
На
рис
.1.18
изображены
спектральные
зависимости
энергетического
коэффициента
пропускания
диэлектрических
систем
(
ВНВНВНВ
2
НВНВНВНВ
) - (
кривая
1), (
ВНВНВНВ
2
Н
2
В
2
Н
2
В
2
НВНВНВНВ
) -
(
кривая
2)
в
широком
спектральном
интервале
(
область
максимального
коэффициента
отражения
диэлектрических
зеркал
,
составляющих
зеркало
).
Как
видно
из
сравнения
этих
зависимостей
для
диэлектрической
системы
(
ВНВНВНВ
2
Н
2
В
2
Н
2
В
2
НВНВНВНВ
)
появляется
два
дополнительных
максимума
пропускания
.
Количество
дополнительных
максимумов
отражения
определяется
оптической
толщиной
разделительного
промежутка
(2
Н
2
В
2
Н
2
В
2
Н
).
В
зависимости
от
соотношения
между
оптической
толщиной
разделительного
промежутка
и
спектральной
шириной
максимума
отражения
диэлектрических
зеркал
,
составляющих
интерференционный
светофильтр
,
количество
дополнительных
максимумов
пропускания
может
быть
увеличено
.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 44
- 45
- 46
- 47
- 48
- …
- следующая ›
- последняя »
