Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 48 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВлГУ | Владимир

Составители: 

Рубрика: 

48
где
−→
A
i
= { A
i
} — первый вектор рангов (массив результатов основно-
го контроля),
−→
B
i
= { B
i
} — второй вектор рангов (массив результатов
повторного контроля). Поскольку подходы (3.5) и (3.8) взаимосвя-
заны, то правомерно распространение области применения форму-
лы (3.6) на неизмерительные ПСК, что, в свою очередь, позволяет
решать задачи сравнения по эффективности вариантов измеритель-
ных и неизмерительных ПСК.
Экспериментальная проверка предположения о случайном харак-
тере инструментальной погрешности при наличии массивов резуль-
татов основного и повторного контроля партии изделий с помощью
измерительного ПСК в виде числовых значений параметров может
быть выполнена известными методами [8] для последовательности,
образованной разностями значений основного и повторного измере-
ний.
Предложенная характеристика ПСК была успешно использована
для решения ряда практических задач контроля элементной базы в
условиях производства и при проведении экспериментальных иссле-
дований с целью разработки новых ПСК [10].
48
    −
    →
где Ai = { Ai } — первый вектор рангов (массив результатов основно-
               −
               →
го контроля), Bi = { Bi } — второй вектор рангов (массив результатов
повторного контроля). Поскольку подходы (3.5) и (3.8) взаимосвя-
заны, то правомерно распространение области применения форму-
лы (3.6) на неизмерительные ПСК, что, в свою очередь, позволяет
решать задачи сравнения по эффективности вариантов измеритель-
ных и неизмерительных ПСК.
    Экспериментальная проверка предположения о случайном харак-
тере инструментальной погрешности при наличии массивов резуль-
татов основного и повторного контроля партии изделий с помощью
измерительного ПСК в виде числовых значений параметров может
быть выполнена известными методами [8] для последовательности,
образованной разностями значений основного и повторного измере-
ний.
    Предложенная характеристика ПСК была успешно использована
для решения ряда практических задач контроля элементной базы в
условиях производства и при проведении экспериментальных иссле-
дований с целью разработки новых ПСК [10].

Страницы