ВУЗ:
Составители:
4
Явление дифракции. В основе РФА лежит физическое явление –
дифракция. В данном случае под дифракцией понимается явление
сильного рассеяния волн на периодической решётке рассеивателя при
определенных углах падения и длинах волн. Простейший случай такого
явления возникает при рассеянии света на дифракционной решётке.
Аналогичное явление наблюдается при рассеянии рентгеновского
излучения, используемого в рентгенофазовом анализе, в котором в
качестве рассеивателя выступает кристаллическая решетка фазы. При
этом интесивные пики рассеяния наблюдаются тогда, как выполняется
условия Вульфа — Брэгга (рис.2):
nd
2sin2
, (1)
где d – расстояние между соседними кристаллографическими
плоскостями, м;
θ – угол, под которым наблюдается дифракция, град.;
n – порядок дифракции;
λ – длина волны монохроматических рентгеновских лучей, падающих
на кристалл, м.
Рис. 2. Схема падения (θ) и отражения рентгеновского луча.
Дифракционный максимум. В случае взаимодействия порошка
(или мелкокристаллического материала) с монохроматическими
рентгеновскими лучами всегда найдется для каждого сорта плоскостей
определенное число кристалликов, попавших в «отражающее»
положение. В этом случае под углом θ будет наблюдаться
дифракционный максимум для данного сорта плоскостей,
характеризующийся разной интенсивностью. Угловое положение
максимума будет определяться значением d, а последнее – геометрией
кристаллической решетки.
Интенсивность. Если обозначить плоскости кристаллической
решетки H = nh, K= nk, L = nl, а индексами hkl в n-ном порядке
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- …
- следующая ›
- последняя »
