ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
-39-
непрерывно регистрировать изменения параметров решётки по
мере изменения температуры. Влияние тепловых полей
скажется на сдвиге дифракционных линий, т.е. на уменьшении
или увеличении межплоскостных расстояний.
Пример. Халькогениды редкоземельных элементов образуют
многочисленный класс соединений, характеризующийся
многообразием свойств в зависимости от состава и строения.
Среди них есть диэлектрики, полупроводники и
сверхпроводники; известны
соединения, демонстрирующие
уникальные магнитные и оптические свойства
На рис. 12 представлены зависимости коэффициентов
теплового расширения от температуры для фаз θ-Yb
2
S
3
(пр. гр.
Ia3) (а) и Yb
3
S
4
(пр. гр. Pnma) (б).
Рис. 12. Зависимости коэффициентов теплового расширения
от температуры для фаз θ-Yb
2
S
3
(а) и Yb
3
S
4
(б).
Расчет линейного коэффициента теплового расширения
-40-
(ЛКТР) проведен по формуле α=(a
t
-a
0
)/a
0
∆t, ∆t=t-t
0
(°C) (4), где
a
t
и a
0
параметры ячейки соответственно при температуре t и
при комнатной температуре t
0
. Значения ЛКТР для структуры
Yb
3
S
4
свидетельствует об анизотропии, что подтверждает ее
цепочечный характер.
2. Задачи порошковой дифрактометрии, основанные
на знании ширины дифракционных отражений
Мерой для оценки ширины дифракционного отражения
является его интегральная ширина - величина β, которая
измеряется на половине его высоты (рис.13): β=I
интегр.
./I
max
(в
радианах), где I
интегр.
- общая площадь пика, I
max
– его
максимальная высота.
Рис. 13. Измерение ширины дифракционного отражения.
-39- -40- непрерывно регистрировать изменения параметров решётки по (ЛКТР) проведен по формуле α=(at-a0)/a0∆t, ∆t=t-t0 (°C) (4), где мере изменения температуры. Влияние тепловых полей at и a0 параметры ячейки соответственно при температуре t и скажется на сдвиге дифракционных линий, т.е. на уменьшении при комнатной температуре t0. Значения ЛКТР для структуры или увеличении межплоскостных расстояний. Yb3S4 свидетельствует об анизотропии, что подтверждает ее Пример. Халькогениды редкоземельных элементов образуют цепочечный характер. многочисленный класс соединений, характеризующийся многообразием свойств в зависимости от состава и строения. 2. Задачи порошковой дифрактометрии, основанные на знании ширины дифракционных отражений Среди них есть диэлектрики, полупроводники и сверхпроводники; известны соединения, демонстрирующие Мерой для оценки ширины дифракционного отражения уникальные магнитные и оптические свойства является его интегральная ширина - величина β, которая На рис. 12 представлены зависимости коэффициентов измеряется на половине его высоты (рис.13): β=Iинтегр../Imax (в теплового расширения от температуры для фаз θ-Yb2S3 (пр. гр. радианах), где Iинтегр. - общая площадь пика, Imax – его Ia3) (а) и Yb3S4 (пр. гр. Pnma) (б). максимальная высота. Рис. 12. Зависимости коэффициентов теплового расширения от температуры для фаз θ-Yb2S3 (а) и Yb3S4 (б). Расчет линейного коэффициента теплового расширения Рис. 13. Измерение ширины дифракционного отражения.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 18
- 19
- 20
- 21
- 22
- …
- следующая ›
- последняя »