Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть II. Кузьмичева Г.М. - 31 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

-61-
η=1.36603q-0.47719q
2
+0.1116q
3
, q=Г
L
/Г
Г=(Г
G
5
+AГ
G
4
Г
L
+BГ
G
3
Г
L
2
+CГ
G
2
Г
L
3
+DГ
G
Г
L
4
+Г
L
5
)
0.2
=H
hkl
A=2.69269, B=2.42843, C=4.47163, D=0.07842
Г
G
= (Utg
2
θ
hkl
+Vtgθ
hkl
+W+Z/cos
2
θ)
1/2
, Г
L
=Xtgθ+Y/cosθ
NA, NB, NC, U,V,W, X, Y, Z-уточняемые параметры.
В табл. 4 на
LINE 2 цифрой (см. выше цифру при функции)
указывается выбор функции профиля. В настоящее время в
рентгеновской кристаллографии при расчетах по методу
Ритвельда в основном используются две формулы,
характеризующие функцию формы пика – pseudo-Voigt (5) и
Pearson VII (6).
Интенсивность фона (B
i
в формуле (14)) может быть
получена тремя способами:
-по предложенной таблице интенсивностей фона (табл. 4,
LINE 2, четвертая позиция=1),
-по линейной интерполяции между выбранными точками в
образце (табл. 4,
LINE 2, четвертая позиция=n –число точек),
-по специально выбранной функции: B
i
=Σb
n
[(2θ
i
/2θ
x
)-1]
n
(табл. 4, LINE 2, четвертая позиция=0), где b
n
-полином 5-й
степени, 2θ
x
–начальный угол полинома (табл. 4, LINE 4,
четвертая позиция).
В табл. 4 приведен пример вводимого файла для
однофазного образца (
LINE 2, третья позиция – количество
-62-
уточняемых фаз) шихтового состава Ca
3
NbGa
3
Si
2
O
14
. Первая
позиция на
LINE 2 указывает выбор источника излучения (0-
рентгеновское излучение; 1- поток нейтронов; 2-расчет образца,
рентгеновское излучение; 3-расчет образца, поток нейтронов).
На
LINE 3 (табл. 4) даны контрольные параметры: цифра 0-
исключить (наблюдаемые и рассчитанные интенсивности при
каждом шаге (1-ая позиция), принтер (2-ая позиция), список
начальных рефлексов с индексами, шириной, позициями, LP
факторами и факторами смешения (6-ая позиция), список
уточненных данных (7-ая позиция), список перекрывающихся
рефлексов (8-ая позиция)), цифры 1 или 2 – приводить
(структурные факторы и R
B
-фактор – цифра 1; структурные
факторы, R
B
-фактор, |F|
э
и |F|
в
, R
F
-фактор –цифра 2 (3-ья
позиция), корреляционная матрица (4-ая позиция), вывод файла
с результатами из последнего цикла уточнения (5-ая позиция),
операторы симметрии (9-ая позиция)).
На
LINE 4 (табл.4) приводятся значения K
α1
, K
α2
, отношение
интенсивности Кα
2
/Кα
1
, область рассчитанного профиля в
единицах H
hkl
, коэффициент монохроматора M в
поляризационном факторе Р при расчете
LP=(1+Mcos
2
θ)/(sin
2
θ×cosθ), коэффициент поглощения (не
учитывается), угол 2θ, меньше которого пики корректируются
для асимметрии. 
                                -61-                                                             -62-
               η=1.36603q-0.47719q2+0.1116q3, q=ГL/Г               уточняемых фаз) шихтового состава Ca3NbGa3Si2O14. Первая
      Г=(ГG5 +AГG4ГL+BГG3ГL2+CГG2ГL3+DГGГL4+ГL5)0.2=Hhkl           позиция на LINE 2 указывает выбор источника излучения (0-
            A=2.69269, B=2.42843, C=4.47163, D=0.07842             рентгеновское излучение; 1- поток нейтронов; 2-расчет образца,
       ГG= (Utg2θhkl+Vtgθhkl+W+Z/cos2θ)1/2, ГL=Xtgθ+Y/cosθ         рентгеновское излучение; 3-расчет образца, поток нейтронов).
       NA, NB, NC, U,V,W, X, Y, Z-уточняемые параметры.              На LINE 3 (табл. 4) даны контрольные параметры: цифра 0-
  В табл. 4 на LINE 2 цифрой (см. выше цифру при функции)          исключить (наблюдаемые и рассчитанные интенсивности при
указывается выбор функции профиля. В настоящее время в             каждом шаге (1-ая позиция), принтер (2-ая позиция), список
рентгеновской кристаллографии при расчетах по методу               начальных рефлексов с индексами, шириной, позициями, LP
Ритвельда      в    основном    используются   две     формулы,    факторами и факторами смешения (6-ая позиция), список
характеризующие функцию формы пика – pseudo-Voigt (5) и            уточненных данных (7-ая позиция), список перекрывающихся
Pearson VII (6).                                                   рефлексов (8-ая позиция)), цифры 1 или 2 – приводить
  Интенсивность фона (Bi в формуле (14)) может быть                (структурные факторы и RB-фактор – цифра 1; структурные
получена тремя способами:                                          факторы, RB-фактор, |F|э и |F|в, RF-фактор –цифра 2 (3-ья
  -по предложенной таблице интенсивностей фона (табл. 4,           позиция), корреляционная матрица (4-ая позиция), вывод файла
LINE 2, четвертая позиция=1),                                      с результатами из последнего цикла уточнения (5-ая позиция),
  -по линейной интерполяции между выбранными точками в             операторы симметрии (9-ая позиция)).
образце (табл. 4, LINE 2, четвертая позиция=n –число точек),         На LINE 4 (табл.4) приводятся значения Kα1, Kα2, отношение
  -по специально выбранной функции: Bi=Σbn[(2θi/2θx)-1]n           интенсивности Кα2/Кα1, область рассчитанного профиля в
(табл. 4, LINE 2, четвертая позиция=0), где bn-полином 5-й         единицах    Hhkl,   коэффициент      монохроматора     M       в
степени, 2θx –начальный угол полинома (табл. 4, LINE 4,            поляризационном        факторе         Р     при      расчете
четвертая позиция).                                                LP=(1+Mcos2θ)/(sin2θ×cosθ),   коэффициент    поглощения    (не
  В    табл.    4   приведен   пример   вводимого    файла   для   учитывается), угол 2θ, меньше которого пики корректируются
однофазного образца (LINE 2, третья позиция – количество           для асимметрии.

Страницы