Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть II. Кузьмичева Г.М. - 41 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

-81-
A
hkl
-дополнительный безразмерный множитель,
учитывающий вклад интерференции лучей, рассеянных
атомами объема области когерентного рассеяния, т.е.
структурный фактор. (Для аморфного вещества в области
максимума первого «галó» A
hkl
~≤3.5).
Отношение интенсивностей отражений от кристаллической
линии и аморфного «галó»
I
крис
/I
аморф
=9/4|F
hkl
/V
яч
|
2
[1/(ρ
0
<f
j
2
>A
hkl
)] Hd
3
tgθ η, где
η=η
крис
/η
аморф
, d-межплоскостное расстояние.
Таким образом, зная экспериментальные значения I
крис
и
I
аморф
(рис. 16) можно оценить содержание кристаллической
доли в образце, содержащем, в основном, аморфную фазу.
Безэталонный метод применим только в том случае, когда
дифракционное отражение кристаллической фазы оказывается в
области максимума первого аморфного «галó» и при небольшой
(≤10%) объемной доле кристаллической фазы.
5. Заключение
В Части II мы продолжили рассмотрение решения задач
порошковой дифрактометрии, основанные на определении
параметров элементарной ячейки при изучении твердых
растворов. В этой части учебного пособия акцент сделан на
-82-
проявление разных видов упорядочения твердых растворов
(статистических, частично и полностью упорядоченных) в
поведении зависимости параметров элементарной ячейки от
состава. Кроме того, здесь
же представлен ряд примеров
нетривиального использования знания характера изменения
параметров ячейки для объяснения анизотропии теплового
расширения образцов, изменения формальных зарядов катионов
в твердых растворах различного состава, образования двух
изоструктурных твердых раствора.
Особое внимание уделено решению задач материаловедения,
использующих точное знание интенсивности дифракционных
отражений для определения, подтверждения и уточнения
кристаллической структуры. В
настояшее время
полнопрофильный анализ, позволяющий определить и уточнить
атомно-кристаллическую структуру поликристаллических
материалов, играет большую роль в установлении
фундаментальной связи между составом, строением,
характеристиками свойств и условиями получения соединений.
На некоторых примерах в данном пособии представлены
различные аспекты порошковой дифрактометрии при изучении
аморфных и аморфно-кристаллических систем. 
                                 -81-                                                             -82-
  Ahkl-дополнительный            безразмерный           множитель,   проявление разных видов упорядочения твердых растворов
  учитывающий вклад интерференции лучей, рассеянных                  (статистических, частично и полностью упорядоченных) в
  атомами объема области когерентного рассеяния, т.е.                поведении зависимости параметров элементарной ячейки от
  структурный фактор. (Для аморфного вещества в области              состава. Кроме того, здесь же представлен ряд примеров
  максимума первого «галó» Ahkl~≤3.5).                               нетривиального использования знания характера изменения
Отношение интенсивностей отражений от кристаллической                параметров ячейки для объяснения анизотропии теплового
                   линии и аморфного «галó»                          расширения образцов, изменения формальных зарядов катионов
     Iкрис/Iаморф=9/4|Fhkl/Vяч| 2 [1/(ρ0Ahkl)] Hd3tgθ η, где   в твердых растворах различного состава, образования двух

         η=ηкрис/ηаморф, d-межплоскостное расстояние.                изоструктурных твердых раствора.

  Таким образом, зная экспериментальные значения Iкрис и               Особое внимание уделено решению задач материаловедения,

Iаморф (рис. 16) можно оценить содержание кристаллической            использующих точное знание интенсивности дифракционных

доли в образце, содержащем, в основном, аморфную фазу.               отражений для определения, подтверждения и уточнения

Безэталонный метод применим только в том случае, когда               кристаллической    структуры.       В      настояшее      время

дифракционное отражение кристаллической фазы оказывается в           полнопрофильный анализ, позволяющий определить и уточнить

области максимума первого аморфного «галó» и при небольшой           атомно-кристаллическую     структуру      поликристаллических

(≤10%) объемной доле кристаллической фазы.                           материалов,   играет     большую    роль     в      установлении
                                                                     фундаментальной    связи    между       составом,     строением,

                        5. Заключение                                характеристиками свойств и условиями получения соединений.
                                                                       На некоторых примерах в данном пособии представлены
  В Части II мы продолжили рассмотрение решения задач                различные аспекты порошковой дифрактометрии при изучении
порошковой дифрактометрии, основанные на определении                 аморфных и аморфно-кристаллических систем.
параметров элементарной ячейки при изучении твердых
растворов. В этой части учебного пособия акцент сделан на

Страницы