Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Кузьмичева Г.М. - 28 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МИРЭА | Москва

Составители: 

Рубрика: 

-55-
еющ рограм на
работу с однофазными соединениями, хотя в них и заложены
воз
ача рутинного
индицирования может
оказаться вообще неразрешимой. В этом случае необходимо
заранее исключить из рассмотр примесные рефлексы. Этого
мо
с
х
в
т м
,
.
) ячейки ис
= , )°
ное определение параметров
элементарной ячейки. Для ения ряда задач (например,
оп
точных
зможностей
сис бки, неоп
в
Им иеся п мы индицирования ориентированы
можности автоматического исключения из рассмотрения
пиков от примесей. Известны даже попытки создать программы,
которые могли бы индицировать наборы положений пиков от
многофазных образцов. Но все-таки, если в наборе 2θ° окажутся
пики от примесей, зад
ения
жно добиться, в частности, путем сравнения пиков из
полученного набора 2θ° либо d,Å с пиками от уже известных
соединений, ведения о которых хранятся в банке данных
порошковой дифракции PDF-2. При идентификации примеси все
ее дифракционные
пики удаляются из набора (см. раздел 3.2.1).
б.Определение и уточнение параметров
элементарной ячейки. После процесса индицирования для
определения параметров элементарной ячейки выбирается
несколько сильных дифракционных отражений, количество
которы зависит от сингонии соединения, и по формулам
рентгеновской кристаллографии (табл. 5) рассчитываются их
значения. Затем эти ычисленные значения параметров
элементарной ячейки уточняются
методом наименьших
квадратов - МНК.
-56-
Так, например, используя результаты индицирования фазы
Lu
2
SiO
5
по 17 отражениям, приведенных в абл. 7, ы получаем
параметры элементарной ячейки: a=14.21, b=6.62 c=10.23Å,
β
=112.2(3)° (пр гр.С2/с). Уточненные МНК по всем 110
дифракционным отражениям в интервале углов 10-100° (CuK
α
излучение параметры элементарной оказал ь равными:
a=14.272(1), b 6.6472(6), c=10.261(1)Å
β
=112.2(3
в.Прецизион
реш
ределение состава твердого раствора, изучение изоморфных
соотношений между отдельными атомами в кристаллических
структурах, оценка дефектности кристаллов и т. д.) необходимо
знание (прецизионных) параметров элементарной
ячейки. Для этого необходимо высокое качество набора
положений пиков – значения 2θ° должны
быть получены с
точностью не хуже 0.03°. Для корректного учета во
тематической оши связанной с ределенностью
абсолютного «нулевого» положения детектора и приводящей к
сдвигу всех значений 2θ° на одну и ту же величину, существует
несколько приемов:
•
Съемка с эталоном. В исследуемый порошок добавляют
небольшое количество стандартного (эталонного ещества) в 
                               -55-                                                             -56-
   Имеющиеся программы индицирования ориентированы на              Так, например, используя результаты индицирования фазы
работу с однофазными соединениями, хотя в них и заложены         Lu2SiO5 по 17 отражениям, приведенных в табл. 7, мы получаем
возможности автоматического исключения из рассмотрения           параметры элементарной ячейки: a=14.21, b=6.62, c=10.23Å,
пиков от примесей. Известны даже попытки создать программы,      β=112.2(3)°   (пр. гр.С2/с). Уточненные МНК по всем 110
которые могли бы индицировать наборы положений пиков от          дифракционным отражениям в интервале углов 10-100° (CuKα
многофазных образцов. Но все-таки, если в наборе 2θ° окажутся    излучение) параметры элементарной ячейки оказались равными:
пики от примесей, задача рутинного индицирования может           a=14.272(1), b=6.6472(6), c=10.261(1)Å, β=112.2(3)°
оказаться вообще неразрешимой. В этом случае необходимо             в.Прецизионное           определение            параметров
заранее исключить из рассмотрения примесные рефлексы. Этого      элементарной ячейки. Для решения ряда задач (например,
можно добиться, в частности, путем сравнения пиков из            определение состава твердого раствора, изучение изоморфных
полученного набора 2θ° либо d,Å с пиками от уже известных        соотношений между отдельными атомами в кристаллических
соединений, сведения о которых хранятся в банке данных           структурах, оценка дефектности кристаллов и т. д.) необходимо
порошковой дифракции PDF-2. При идентификации примеси все        знание   точных   (прецизионных)      параметров   элементарной
ее дифракционные пики удаляются из набора (см. раздел 3.2.1).    ячейки. Для этого необходимо высокое качество набора
  б.Определение           и   уточнение           параметров     положений пиков – значения 2θ° должны быть получены с
элементарной ячейки. После процесса индицирования для            точностью не хуже 0.03°. Для корректного учета возможностей
определения параметров элементарной ячейки выбирается            систематической ошибки, связанной с неопределенностью
несколько сильных дифракционных отражений, количество            абсолютного «нулевого» положения детектора и приводящей к
которых зависит от сингонии соединения, и по формулам            сдвигу всех значений 2θ° на одну и ту же величину, существует
рентгеновской кристаллографии (табл. 5) рассчитываются их        несколько приемов:
значения.   Затем   эти   вычисленные   значения    параметров
                                                                    •Съемка с эталоном. В исследуемый порошок добавляют
элементарной    ячейки    уточняются    методом    наименьших
                                                                 небольшое количество стандартного (эталонного вещества) в
квадратов - МНК.

Страницы