ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
снимается или
и
-57-
соотношении ~1:3 (съемка с внутренним стандартом) или
эталонное вещество до (и) после съемки
основного вещества (съемка с внешним стандартом).
В качестве стандартного вещества могут служить:
-
поликристаллическ й кремний с параметром элементарной
ячейки a =5.4309Å (пр. гр. Fd3m). На Cu-K излучении
тот
стандартный образец дает интенсивные рефлексы при 2θ=28.441
(рефлекс с индексами 111) и рефлекс с индексами 220)
теор α1
(λ=1.54051 Å) в отсутствии систематического сдвига э
47.300 (
(табл. 10).
Таблица 10. Теоретическая и экспериментальная
дифрактограмма Si (λ=1.54051 Å)
2θ
теор.
h k l I
отн
, %
28.441 1 1 1 100.00
47.300 2 2 0 61.30
56.119 3 1 1 34.18
58.853 2 2 2 -
69.126 4 0 0 8.57
76.371 3 3 1 15.12
88.024 4 2 2 18.57
94.946 5 1 1, 3 3 3 9.48
106.700 4 4 0 5.78
114.083 5 3 1 12.34
-58-
2θ
теор.
h k l I
отн
, %
116.634 4 4 2 -
127.532 6 2 0 10.44
136.878 5 3 3 5.96
- αполикристаллический -Al
2
O
3
c параметрами элементарной
ячейки a
тео
=4.75919(14), c
теор
=12.99183(174) Å ( гр. R-3c). На
Cu-K
α1
изл (λ=1.54 отсутствии матического
сдвига это артный дает рефлексы
при 2θ=43.350° и 57.496°.
Сравнен значений угло ° для рефлексо андартного
вещества рименталь ифрактограмм с табличными
значениями позволяет величину систематического
«нулевого и ввести поправку в ченный набор
2θ .
р
пр.
учении 051 Å) в систе
т станд образец интенсивные
ие в 2θ в ст
на экспе ной д е
оценить
» сдвига эту полу
°
В табл. 11 приведены
в качестве примера теоретические и
экспериментальные рентгенометрические данные (I,% и 2θ°)
для эталонного вещества α-Al
2
O
3
и разность углов ∆2θ=2θ
теор
-
2θ
эксп
(λ=1.54051 Å), свидетельствующий о наличии сдвига.
-57- -58- соотношении ~1:3 (съемка с внутренним стандартом) или 2θтеор. hkl Iотн, % эталонное вещество снимается до или (и) после съемки 116.634 442 - 127.532 620 10.44 основного вещества (съемка с внешним стандартом). 136.878 533 5.96 В качестве стандартного вещества могут служить: - поликристаллический кремний с параметром элементарной -поликристаллический α-Al2O3 c параметрами элементарной ячейки aтеор=5.4309Å (пр. гр. Fd3m). На Cu-Kα1 излучении ячейки aтеор=4.75919(14), cтеор=12.99183(174) Å (пр.гр. R-3c). На (λ=1.54051 Å) в отсутствии систематического сдвига этот Cu-Kα1 излучении (λ=1.54051 Å) в отсутствии систематического стандартный образец дает интенсивные рефлексы при 2θ=28.441 сдвига этот стандартный образец дает интенсивные рефлексы (рефлекс с индексами 111) и 47.300 (рефлекс с индексами 220) при 2θ=43.350° и 57.496°. (табл. 10). Сравнение значений углов 2θ° для рефлексов стандартного Таблица 10. Теоретическая и экспериментальная вещества на экспериментальной дифрактограмме с табличными дифрактограмма Si (λ=1.54051 Å) значениями позволяет оценить величину систематического «нулевого» сдвига и ввести эту поправку в полученный набор 2θтеор. hkl Iотн, % 28.441 111 100.00 2θ° . 47.300 220 61.30 В табл. 11 приведены в качестве примера теоретические и 56.119 311 34.18 экспериментальные рентгенометрические данные (I,% и 2θ°) 58.853 222 - 69.126 400 8.57 для эталонного вещества α-Al2O3 и разность углов ∆2θ=2θтеор- 76.371 331 15.12 2θэксп (λ=1.54051 Å), свидетельствующий о наличии сдвига. 88.024 422 18.57 94.946 5 1 1, 3 3 3 9.48 106.700 440 5.78 114.083 531 12.34
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 27
- 28
- 29
- 30
- 31
- …
- следующая ›
- последняя »