ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
ли, пары щелей) помещаются в кассете для экранов (модуль 8) в плоскости Э1,
при этом в плоскости Э2 образуется интерференционная или дифракционная
картина, которая в увеличенном виде наблюдается на экране Э3. Для наблюде-
ния и измерения параметров самих объектов их помещают в кассету в объект-
ной плоскости линзы Э2, а объектив 0 смещают так, чтобы волна расфокусиро-
валась и осветила всю поверхность объекта. При этом на экране фотоприемника
Э3 возникает увеличенное изображение объектов.
Э3Э2O
S
Л1
l
Рисунок 5
2. 1. 1 Изучение интерференции
1 Убедитесь в том, что после прохождения излучения через щель получа-
ется расходящийся пучок. Поместите в плоскости Э1 экран со щелью 0,5 мм.
Вместо яркой точки на экране Э3 появится пятно, размазанное в направлении,
перпендикулярном щели. Оно состоит из центрального дифракционного макси-
мума и ряда побочных максимумов по обе стороны от центрального. Размер
пятна определяется фундаментальным соотношением дифракции: если излуче-
ние с длиной волны λ проходит через отверстие размером d, то возникает ди-
фракционная расходимость определяемая углом
дифракции
θ
д
порядок величи-
ны которого
θ
д
∼λ/
d. (13)
Проверьте это соотношение, измерив размер центрального максимума.
2 Установите в плоскости Э1 экран с двумя щелями. Аккуратно закрывая
и открывая одну из щелей, краем листа бумаги или краем какого-либо экрана из
набора объектов, пронаблюдайте, чем отличаются распределения интенсивно-
сти от одной и от двух щелей.
3 Перемещая модуль с экраном Э1 вдоль оптической скамьи (изменяя l -
см. рисунок 5), убедитесь в том, что ширина интерференционной полосы изме-
няется согласно (12). Постройте график
∆
x = f(l). Затем проверьте (12), устанав-
ливая экраны с различными расстояниями h между щелями.
34
ли, пары щелей) помещаются в кассете для экранов (модуль 8) в плоскости Э1, при этом в плоскости Э2 образуется интерференционная или дифракционная картина, которая в увеличенном виде наблюдается на экране Э3. Для наблюде- ния и измерения параметров самих объектов их помещают в кассету в объект- ной плоскости линзы Э2, а объектив 0 смещают так, чтобы волна расфокусиро- валась и осветила всю поверхность объекта. При этом на экране фотоприемника Э3 возникает увеличенное изображение объектов. O Э2 Э3 Л1 S l Рисунок 5 2. 1. 1 Изучение интерференции 1 Убедитесь в том, что после прохождения излучения через щель получа- ется расходящийся пучок. Поместите в плоскости Э1 экран со щелью 0,5 мм. Вместо яркой точки на экране Э3 появится пятно, размазанное в направлении, перпендикулярном щели. Оно состоит из центрального дифракционного макси- мума и ряда побочных максимумов по обе стороны от центрального. Размер пятна определяется фундаментальным соотношением дифракции: если излуче- ние с длиной волны λ проходит через отверстие размером d, то возникает ди- фракционная расходимость определяемая углом дифракции θд порядок величи- ны которого θд∼λ/d. (13) Проверьте это соотношение, измерив размер центрального максимума. 2 Установите в плоскости Э1 экран с двумя щелями. Аккуратно закрывая и открывая одну из щелей, краем листа бумаги или краем какого-либо экрана из набора объектов, пронаблюдайте, чем отличаются распределения интенсивно- сти от одной и от двух щелей. 3 Перемещая модуль с экраном Э1 вдоль оптической скамьи (изменяя l - см. рисунок 5), убедитесь в том, что ширина интерференционной полосы изме- няется согласно (12). Постройте график ∆x = f(l). Затем проверьте (12), устанав- ливая экраны с различными расстояниями h между щелями. 34
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 32
- 33
- 34
- 35
- 36
- …
- следующая ›
- последняя »