Ренгенография в неорганической нанохимии. Лаврушина С.С - 5 стр.

                                    5
пропорциональна (Z—I) , т.е. с увеличением атомного номера вещества
                       2

анода длина волны характеристического излучения в пределах одной серии
уменьшается. Длинноволновое рентгеновское излучение называют мягким,
коротковолновое – жестким. Граница между ними условна (~1 А). Для
каждого анода λKα > λKβ, поскольку EL — ЕK < ЕM — ЕK, и интенсивность JKα
> JКβ , поскольку вероятность перехода электрона на К-оболочку с соседней
L-оболочки больше, чем с М-оболочки за счет экранирования в последнем
случае.
      Величина порога возбуждения характеристического излучения
различна для разных серий. Она определяется прочностью связи электронов
в атоме анода. Наиболее прочно связаны К-электроны. Для их выбивания из
атома требуется наибольшая энергия, которой отвечает самый высокий
порог возбуждения. Энергия всех К-электронов (максимум двух) одинакова,
поэтому все линии К-серии данного анода имеют один порог возбуждения.
Для медного анода он равен 9 кВ, для молибденового 20 кВ. Порог
возбуждения других серий ниже, поэтому если присутствует К-серия, то
присутствуют и другие возможные для данного анода серии
характеристического излучения.

                ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ
      Рентгеновское излучение, проходя через вещество, рассеивается
электронами (рассеяние ядрами пренебрежимо мало) или вызывает
процессы типа фотоэффекта: выбиваются электроны с различных уровней
облучаемого образца, что вызывает появление вторичного рентгеновского
излучения. По длине волны и интенсивности вторичного излучения можно
определить содержание того или иного элемента в образце, что используется
в рентгенофлуоресцентном анализе.
     Рассеяние рентгеновских лучей электронами может быть когерентным
(без изменения длины волны) и некогерентным. Во втором случае часть
энергии рентгеновского кванта при упругом соударении передается
электрону (эффект Комптона, который наблюдается в основном для
жесткого рентгеновского излучения).
     Когерентно рассеянные рентгеновские лучи могут интерферировать
между собой, причем дифракционной решеткой для рентгеновского
излучения служит кристаллическая решетка, так как межплоскостные
расстояния в кристалле сравнимы с длиной волны излучения. Для
нахождения условий возникновения дифракционных максимумов кристалл
условно рассматривают как совокупность атомных плоскостей. Волны,
«отраженные» разными плоскостями (рис.2), взаимодействуют между собой
— интерферируют. Результирующая интерференции когерентных волн
определяется их амплитудами и относительными фазами. Отраженные лучи
будут усиливаться, если разность хода для лучей, отраженных от соседних
плоскостей, окажется равной целому числу длин волн.