Ренгенография в неорганической нанохимии. Лаврушина С.С - 6 стр.

                                       6
     Из рисунка можно видеть, что это отвечает условию nλ=2d sinθ. Дей
ствительно, разность хода лучей 1 и 2 равна:




                                    Рис.2. Схема «отражения» рентгеновских
                                        лучей от атомных плоскостей.




        Δ = АВ + ВС = 2d sin θ, если расстояние между плоскостями d, а угол
падения лучей θ. Раскрыв величину Δ, получим уравнение Брегга —
Вульфа:
                                        nλ = 2d(hkl) sin θ                   (3)
        При «отражении» рентгеновского излучения с длиной волны λ от
плоскостей с межплоскостным расстоянием d (hkl) дифракционные лучи
возникают лишь под углами θn = arc sin (nλ /2d (hkl ). Целые числа п = 1, 2, 3
. . ., показывающие, сколько длин волн укладывается в разности хода лучей,
«отраженных» соседними плоскостями, называют порядком отражения.
        Задачи, решаемые с помощью уравнения Брегга — Вульфа, можно
разделить на две группы.
        1. Рентгеноспектралъный анализ – измерение длины волны и изучение
спектрального         состава   рентгеновского       излучения по  известным
межплоскостным расстояниям d (hkl) кристалла и экспериментально
измеренным значениям углов отражения θ.
        2. Рентгеноструктурный анализ — расчет межплоскостных расстояний
d(hkl) и других структурных характеристик кристалла по известной длине
волны излучения и экспериментально измеренным значениям углов
отражения θ и интенсивностей дифракционных максимумов. Поскольку из
эксперимента не всегда удается определить порядок отражения п, то
рассчитывают отношение d (hkl)/n. Если (hkl) — символ отражающей серии
плоскостей, a hkl — символ рентгеновского отражения — символ
интерференции, который включает и порядок отражения, т.е. hkl есть п(hkl),
то d(hkl)//n=d hkl и уравнение Брегга — Вульфа принимает вид λ = 2dhkl sin θ .
        Приведенный вывод условий дифракции основан на допущении, что
рентгеновские лучи: 1) «отражаются» плоскостями из атомов, хотя реально
они рассеиваются каждым электроном кристалла независимо; 2) не
преломляются при переходе из воздуха в кристалл и из кристалла в воздух;
3) не ослабляются по мере проникновения в глубь кристалла и т. д.
        Чтобы получить дифракционный луч, необходимо расположить
отражающую серию плоскостей (hkl) под таким углом θ к первичному пучку
рентгеновских лучей, который следует из уравнения Брегга — Вульфа для
данного межплоскостного расстояния и используемой длины волны λ.