Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 120 стр.

UptoLike

120
однако, может несколько усложнить общую процедуру и снизить ее
эффективность. Альтернативный вариант заключается в искусственном
введении погрешности, которая заведомо не может сказаться на результате
вычислений. Например, в случае изотропной среды показатели
преломления можно задать не строго одинаковыми, а различающимися,
например, в седьмом десятичном разряде. Даже при толщине элементов в
сотни микрон это не может заметно повлиять на результат вычислений
предположении, что вычисления выполняются с двойной точностью). В
случае нормального падения достаточно просто задать очень малое
отклонение, например, точность отсчета угла 10
-6
рад вряд ли возможна в
эксперименте.
Определение пропускания и отражения
Ниже будут представлены выражения для определения поля в
отраженной и прошедшей волнах. Хотя эта задача была рассмотрена
Берреманом, в его оригинальной работе в выражениях для поля
прошедшей и отраженной волн имеется неточность.
Будем полагать, что анизотропная пластина или оптическая система
из дискретных элементов, пропускание и отражение для которой нам
требуется найти, заключена между двумя непоглощающими изотропными
средами с коэффициентами преломления соответственно
1
n
и
2
n
. Световая
волна падает со стороны среды с коэффициентом
1
n
под углом
1
по
отношению к нормали поверхности пластины и выходит во вторую среду
под углом
2
. Поле на входе системы определяется суперпозицией
падающей и отраженной волн, в то время как на выходе имеется только
прошедшая волна:
( )( ).
T I R
Ph

(6.9)
Здесь
()Ph
матрица Берремана, которая в случае неоднородной
среды или системы оптических элементов определяется произведением