ВУЗ:
Составители:
ЭИКТ ЭЛТИ
128
ε
1
4
21
1
ln
10
+
≤
+
n
n
n
расч
r
r
r
а
CC
CU
. (8.64)
Условие работы измерительного конденсатора предполагает отсутствие
частичных разрядов, т.е.
Е
2
≤ 89,6 ⋅10
3
δ
-0,55
.
(8.65)
Глава 9. Расчет надежности ЭИК
Как уже отмечалось, время жизни ЭИ или долговечность ЭИК зависит
от воздействующих нагрузок и других факторов, т.е.
τ
= f (Е,Т,
σ
...) (9.1)
По этой причине механизм старения ЭИ очень многогранен и сложен,
что затрудняет разработку какой то обобщенной модели, описывающей про-
цесс старения.
В настоящее время считается, что одним из возможных и наиболее веро-
ятных механизмов является процесс разрушения материала вследствие раз-
рыва межатомных химических связей при тепловых колебаниях атомов, т.е.
тепловых флюктуаций. Такой механизм хорошо описывает закономерности
механического разрушения материалов (теория Журкова) и может быть при-
менен также для описания механизма электрического старения ЭИ.
Рассмотрим это на примере термофлюктуационной теории, предложен-
ной В.С.Дмитревским. Для твердых органических диэлектриков основной
структурной цепью является связь С-С.
Здесь представлены в
качестве примера химические
связи С—С , С—Н и С—R, где R – группа
радикала.
Из курса физики известно, что взаимодействие атомов друг с другом
может быть описано графиком
Рис. 9.1 Зависимость
энергии взаимодействия ато-
мов от расстояния между ними
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 126
- 127
- 128
- 129
- 130
- …
- следующая ›
- последняя »
