Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 142 стр.

мерной величиной. Оказывается, что указанным способом
может быть определена известная безразмерная константа
a=e2/hc (а=137-1 – постоянная тонкой структуры), причем
может быть предложена процедура измерений, не исполь-
зующая эталонов.
   Пусть на достаточно большом расстоянии L от точки
излучения расположена диафрагма диаметром d. Предпо-
ложим, выполняется условие
    d << λL/x,                                      (3.11)
где х—эффективный поперечный размер излучающей об-
ласти; λ—длина волны, на которой происходит измерение.
В этом случае согласно теореме Ван-Циттерта—Цернике
поле на диафрагме можно считать когерентным и характер
распространения излучения за диафрагмой определяется
дифракцией на ней. В дальней зоне (l >> d2/λ) имеет место
дифракция Фраунгофера, и расходимость излучения со-
ставляет ~λ/d. Очевидно, падающую на диафрагму волну
можно считать плоской, если ее расходимость много-
меньше λ/d. Последнее условие при х ≥ d совпадает с усло-
вием (3.11).
   Таким образом, угловое распределение поля в дальней
зоне описывается дифракцией Фраунгофера, а полученная
интенсивность пропорциональна интенсивности СИ на
диафрагме. Следовательно, характеристики продифраги-
ровавшего СИ на диафрагме не зависят от распределения
плотности тока по сечению пучка электронов. В направле-
нии главного максимума яркость в дальней зоне равна
         π     d2
    B = I ( L) 2 ,                                  (3.12)
         4     λ
где I(L) —интенсивность СИ на диафрагме.
   При измерении яркости с помощью абсолютного мето-
да яркость излучения (в обычных единицах) равна [73]



                         - 141 -