Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 49 стр.

ние полосы свечения в видимой и ультрафиолетовой об-
ластях спектра осуществляется стандартными стеклянны-
ми светофильтрами.
    Для нормировки измеренных спектров в тех же условиях измеря-
ется спектральная зависимость потока квантов СИ на образец с помо-
щью салицилата натрия, имеющего постоянный квантовый выход. Не-
обходимость периодического повторения нормировочных измерений
вызвана двумя причинами: 1) изменение во времени отражательной
способности оптических элементов канала: СИ из-за крекинга углево-
дородов на оптической поверхности под действием высокоэнергетиче-
ской компоненты СИ — в основном нагорает первый оптических эле-
мент СИ — плоское отклоняющее зеркало, которое приходится заме-
нять примерно раз в 3 мес. работы; 2) изменение геометрии канала и
установки, связанное с изменением положения орбиты электронов и
положения отклоняющего плоского зеркала, которое вводится в пучок
СИ только на время работы установки. Это приводит к изменению уг-
ла раствора монохроматора и, следовательно, смещению нулевого по-
рядка и всего спектра. Поэтому перед каждой серией измерений, т. е. в
начале каждой смены работ на установке,. проводится измерение по-
ложения нулевого порядка и в случае необходимости корректировка
градуировки спектра.
    Из-за несовершенства оптического тракта СИ в канале касается в
некоторых местах стенок и, рассеиваясь на них, создает дополнитель-
ный поток квантов на решетку монохроматора с отличными от исход-
ного СИ спектральными и геометрическими характеристиками. Это
приводит к тому, что на образце за выходной щелью монохроматора
вместе с полезным монохроматизированным потоком квантов СИ все-
гда присутствуют кванты рассеянного света сложного спектрального
состава, близкого к «белому» свету. Значительный уровень рас-
сеянного света ограничивает возможности измерения спектров в об-
ласти низкой эффективности решетки (обычно в высокоэнергетиче-
ской области). Для решетки с N=1200 штрих/мм и покрытием Аl это
область 25—30 эВ, а для решетки с N=2400 штрих/мм и покрытием Pt
30—35 эВ. Для корректной обработки спектров проводятся измерения
рассеянного света в высокоэнергетической области спектра с помо-
щью фильтра из MgF2, пропускающего кванты с энергией hν<10,5 эВ.
   Спектральная установка на синхротроне ФИАН С-
60 с монохроматором скользящего падения по схеме
Водара на область энергий 15—130 эВ. Для работы в
экспериментах по спектроскопии вакуумного ультра-
                               - 48 -