Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 51 стр.

прибора используется тороидальная дифракционная ре-
шетка с радиусом R=3 м и N=600 штрих/мм с покрытием
из родия. Средняя обратная линейная дисперсия прибора
0,137 нм/мм. Сканирование спектра осуществляется путем
перемещения дифракционной решетки и входной щели,
жестко связанных между собой и скользящих по разным
направлениям, угол между которыми равен 8°. При этом
используется оптическая схема с постоянным углом паде-
ния φ=82°. При сканировании угол дифракции изменяется,
но направление дифрагированного луча постоянно при из-
менении расстояния от дифракционной решетки до выход-
ной щели d'. В этом случае все оптические элементы авто-
матически располагаются на круге Роуланда и, следова-
тельно, для каждой длины волны, выведенной на выход-
ную щель, выполняется условие фокусировки. Монохро-
матор рассчитан для работы в области 8—100 нм.
   Для установки монохроматора Водара в канал СИ необ-
ходимо использовать предварительное фокусирующее зер-
кало скользящего падения. При этом необходимо обеспе-
чить сложное движение в вакууме фокусирующего зеркала
и входной щели (линейное перемещение на 1000 нм с раз-
воротом относительно направления излучения СИ ~80°).
Такая схема была реализована [22]. Высокие требования к
сохранению юстировки излучения на входную щель при
сложном движении зеркала и входной щели относительно
неподвижного источника (синхротрон) с сохранением вы-
сокого вакуума заставили применить в канале ускорителя
С-60 монохрома-тор скользящего падения с фиксирован-
ными входной щелью и фокусирующим тороидальным
зеркалом скользящего падения, работающий в переверну-
той схеме Водара. Сканирование по спектру обеспечивает-
ся перемещением и разворотом дифракционной решетки и
выходной щели относительно неподвижной входной щели.


                         - 50 -