ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
 4
1. Удельная  электропроводность 
Измерение   температурной   зависимости  удельной   электропроводности 
позволяет  установить  термическую   ширину  запрещенной   зоны   ∆E
0
полупроводника   и  энергии активации примесных уровней. 
Удельную   электропроводность  можно  выразить  через  произведение  
элементарного  заряда   носителей тока   (e  = 1.60  ×10
-19
  Кл -  заряд  электрона), 
концентрации носителей тока   n, и подвижности носителей µ: 
σ = enµ                                                        (1) 
Теоретическая  зависимость  удельной   электропроводности  собственного 
полупроводника   от   температуры   имеет вид: 
lnσ = lnσ
0
  -  ∆E
0 
/(2kT),                                           (2)  
где   σ
0 
 - удельная электропроводность при T = ∞; 
       k = 1.38 ×10
-23
 Дж/град - постоянная Больцмана. 
В   координатах   lnσ - 1/T  уравнение  (2)  имеет  вид  прямой .  В   случае  
примесного  полупроводника   ход   температурной   зависимости  при  низких  
температурах   определяется   энергией  активации  примесных  уровней,  а  при 
высоких  -  шириной   запрещенной   зоны   полупроводника .  Для  примесного 
невырожденного  полупроводника   с  одним  примесным уровнем  температурная 
зависимость удельной   электропроводности отображена на рис. 1. 
Если  имеется   несколько  примесных  уровней,  то  линия  будет  иметь 
соответствующее число изломов . 
Итак,  термическую   ширину  запрещенной   зоны   рассчитаем  по  первому 
участку:  
tgβ = ∆E
0 
/2k                                                   (3а) 
                                             4
      1. У дел ьная э л ектропроводность
      И зме ре ние   те мпе ратурной зависимости уде льной эле ктропроводности
позволяе т     установить   те рмиче скую        ш ирину   запре щ е нной   зоны   ∆E0
полупроводника и эне ргии активации приме сны х уровне й.
      У де льную     эле ктропроводность мож но вы разить че ре з произве де ние
эле ме нтарного заряда носите ле й тока (e = 1.60 ×10-19 К л - заряд эле ктрона),
конце нтрации носите ле йтока n, и подвиж ности носите ле йµ:
                                            σ = enµ                                 (1)
      Т е оре тиче ская зависимость уде льной эле ктропроводности собстве нного
полупроводника от те мпе ратуры име е т вид:
                                 lnσ = lnσ0 - ∆E0 /(2kT),                           (2)
      где σ0 - уде льная эле ктропроводность при T = ∞;
           k = 1.38 ×10-23 Д ж /град - постоянная Больцмана.
      В координатах lnσ - 1/T уравне ние (2) име е т вид прямой. В случае
приме сного полупроводника х од те мпе ратурной зависимости при низких
те мпе ратурах опре де ляе тся эне ргие й активации приме сны х уровне й, а при
вы соких     - ш ириной запре щ е нной зоны        полупроводника. Д ля приме сного
не вы рож де нного полупроводника с одним приме сны м уровне м те мпе ратурная
зависимость уде льнойэле ктропроводности отображ е на на рис. 1.
      Е сли име е тся не сколько приме сны х уровне й, то линия буде т име ть
соотве тствую щ е е числоизломов.
      И так, те рмиче скую ш ирину запре щ е нной зоны рассчитае м по пе рвому
участку:
                                       tgβ = ∆E0 /2k                               (3а)
Страницы
- « первая
 - ‹ предыдущая
 - …
 - 2
 - 3
 - 4
 - 5
 - 6
 - …
 - следующая ›
 - последняя »
 
