ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Рис. 89
Интерферометр Жамена обладает рядом недостатков. Во-первых, лучи 1 и 2, идущие через кюветы, невоз-
можно развести больше чем 4 см. Во-вторых, толстые стеклянные пластинки А и В медленно прогреваются и
медленно приходят в состояние теплового равновесия. Это приводит к тому, что интерференционная картина
часами медленно ползёт в поле зрения трубы.
Указанные недостатки устранены в интерферометре Д.С. Рождественского. Этот интерферометр принци-
пиально не отличается от интерферометра Жамена. Каждая из пластин А и В в нём заменена комбинацией из
двух параллельно установленных тонких пластинок М
1
, Р
1
и М
2
, Р
2
(рис. 90). Пластины М
1
и М
2
посеребрены и
выполняют роль зеркал. Пластины Р
1
и Р
2
также посеребрённые, полупрозрачные; они пропускают половину
падающего света, а остальную половину отражают. Комбинация параллельных пластинок М
2
, Р
2
может повора-
чиваться на любой угол относительно другой комбинации также параллельных пластинок М
1
, Р
1
. Данный ин-
терферометр действует так же, как и интерферометр Жамена. В нём наблюдаются интерференционные полосы
равного наклона. Аналогично устроен интерферометр Маха-Цендера.
Существуют интерферометры для контроля чистоты обработки металлических поверхностей высокого
класса точности (до 0,5 мк). Принцип работы такого интерферометра заключается в сравнении интерференци-
онных картин, получаемых одновременно от тщательно обработанного зеркала и от испытуемой поверхности.
Если на испытуемой поверхности есть шероховатости, то интерференционные полосы искажаются.
Рис. 90
2.8. МНОГОЛУЧЕВАЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ
Согласно теории двухлучевой интерференции интенсивность результирующей волны в произвольной точ-
ке наблюдения определяется выражением (2.1.28). Если амплитуды когерентных интерферирующих волн оди-
наковы
()
12 mm
EE = , то найдём
=
δ
−==
2
sin14
22
1
2
mm
EEI
2
cos4
22
1
δ
=
m
E .
Таким образом, при интерференции двух волн интенсивность результирующей волны распределяется в
пространстве в соответствии с математической функцией cos
2
2
δ
. При этом полуширина максимумов интерфе-
ренции равна полуширине минимумов интерференции. Интерференционная картина характеризуется посте-
пенным изменением освещённости при переходе от максимумов к минимумам интерференции, т.е. максимумы
интерференционной картины "размазаны".
Совершенно иной характер имеет интерференционная картина в случае наложения большого числа коге-
рентных световых волн. Для её наблюдения используются специальные приборы, например эталон Фабри-
Перо, который состоит из двух плоскопараллельных стеклянных пластин Р
1
и Р
2
, расположенных строго парал-
лельно друг другу на небольшом расстоянии (рис. 91). Поверхности пластин, обращённые друг к другу, покры-
ты тонкими полупрозрачными слоями серебра так, что слои обладают коэффициентом отражения света
R ≈ 0,95. На эталон падает расходящийся пучок монохроматического света от источника света S. На рисунке 91
показан ход лишь одного луча, падающего на эталон под углом i. В воздушном зазоре между пластинами Р
1
и
Р
2
свет претерпевает многократное отражение от посеребрённых поверхностей. Параллельные когерентные лу-
чи 1; 2; 3…, выходящие из пластин Р
1
и Р
2
, собираются линзой Л в одной точке М экрана, находящегося в фо-
Л
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 64
- 65
- 66
- 67
- 68
- …
- следующая ›
- последняя »
