Управление качеством электронных средств - 26 стр.

UptoLike

Составители: 

Так как контроль технологического процесса с использованием тестовых схем возможен только с применением
автоматизированных систем измерения, то предпочтение отдается конструкциям тестовых элементов, характеризующихся
электрически измеряемыми параметрами, по которым расчетным путем и должна быть получена необходимая выходная
информация. Основными требованиями, предъявляемыми к измерительному оборудованию, являются возможность
измерения электрических параметров тестовых элементов в автоматическом режиме и наличие в своем составе ЭВМ, не
только управляющую процессом измерения, но и проводящую обработку измеренных результатов по специально
разработанным программам.
4.3. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ О ФУНКЦИОНАЛЬНОМ
И ПАРАМЕТРИЧЕСКОМ КОНТРОЛЕ
С учетом роста стоимости современных электронных средств первостепенное значение при контроле качества
приобретает параметрический и функциональный контроль ЭС на различных этапах их жизненного цикла. Эти виды
контроля осуществляются с помощью специальных тестов.
Функциональный контроль определяет качество функционирования ЭС в соответствии с логикой его работы,
ориентирован на обнаружение постоянных неисправностей и является основным видом контроля при производстве и
эксплуатации ЭС, в том числе при ремонте. Тесты функционального контроля достаточно компактны, время проверки ЭС
невелико, так как не требуется проводить дорогостоящие измерения, необходимые при параметрическом контроле [3].
Параметрический контроль предназначен для проверки соответствия электрических параметров ЭС техническим
требованиям и, в свою очередь, подразделяется на статический и динамический. Статический пре-
дназначен для контроля статических электрических параметров (например, контроль допустимых значений амплитуды
выходного сигнала, значений входных токов, тока потребления и т.д.), а динамическийдля контролирования временных
характеристик электрических сигналов (например, времени задержки сигнала или длительности его фронта). В отличие от
функционального контроля параметрический контроль связан с точными измерениями амплитуды сигнала, значений
входных токов, времени задержки, длительности фронта сигнала и т.д., что приводит к существенным временным затратам и
использованию дорогостоящего оборудования. Основным назначением параметрического контроля является отработка
технологического процесса, контроль в процессе производства и выборочный входной контроль [3].
Для обеспечения эффективного применения функционального и параметрического контроля, необходимо наличие
тестопригодного изделия. Это требование должно выполняться в процессе проектирования ЭС.
Тестопригодным называют ЭС, для каждой неисправности которого существует по крайней мере один тестовый набор, с
помощью которого эта неисправность выявляется, а время построения тестов не превышает установленных временных и (или)
ресурсных затрат при построении тестов.
Здесь под тестом понимают множество тестовых наборов, предназначенных для контроля качества ЭС, а тестовый
набор представляет собой набор стандартных сигналов, соответствующих логическому нулю или единице на входе ЭС
(входной набор), и ожидаемый набор стандартных сигналов на его выходе (выходной набор), соответствующий входному
набору и логике функционирования проверяемого ЭС [3].
Выполнение условий тестопригодности при проектировании ЭС существенно сокращает время и упрощает получение
необходимых тестовых наборов для выявления неисправностей заданных классов.
4.4. ТЕСТЫ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА
Построение тестов функционального контроля проводится для определенного класса неисправностей. Однако при
реальном тестировании ЭС не всегда необходимо строить тесты для логических схем, представленных на уровне логических
элементов И, ИЛИ, НЕ, когда рассматривается множество неисправностей всех входов и выходов. Можно рассматривать
множество неисправностей, отнесенных к входам и выходам конструктивных элементов. В этом случае тест строится только
для данного множества неисправностей, а его построение чаще всего требует меньше времени и имеет меньшее количество
тестовых наборов.
Для построения тестов функционального контроля наибольшее распространение получили алгоритм случайного поиска
и D-алгоритм [3].
Алгоритм случайного поиска предполагает выполнение следующих этапов.
1. С помощью генератора псевдослучайных чисел формируется входной набор и подается на вход логической модели.
2. Моделируется исправное состояние схемы и
обн
NN
неисправных состояний схемы, здесь N общее число всех
неисправностей, а
обн
N количество неисправностей, обнаруженных тестом. На первом шаге 0
обн
=
N , поэтому
моделируются все неисправности. Если состояние хотя бы одного выхода исправной схемы отличается от состояния схемы с
заданной неисправностью, то эта неисправность считается обнаруженной. Все обнаруженные неисправности заносятся в
специальный список.
3. Проверяется эффективность тестового набора
i
Э . Если B
i
Э , где Взаданное количество обнаруженных
неисправностей для включения тестового набора в тест, то набор включается в тест, при этом изменяются списки
обнаруженных и необнаруженных неисправностей и осуществляется переход к п. 4 алгоритма. В противном случае, т.е. при
B
i
Э , производится запись номера тестового набора в таблицу не включенных в тест наборов и осуществляется возврат на
п. 1.
4. Производится проверка эффективности последних К тестовых наборов (здесь Кконстанта), для чего сравнивают
их номера в таблице не включенных в тест тестовых наборов. Если номера идут подряд, т.е. последние К тестовых наборов
были неэффективны, то переходят к п. 5; иначек п. 6.