Управление качеством электронных средств - 27 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

5. Осуществляется изменение процесса генерации входных наборов (изменение начальной установки генератора,
принципа генерации и т.д.).
6. Производится проверка обнаружения всех неисправностей (
обн
NN
=
).
7. Выполняется проверка временного критерия. Если время работы алгоритма
1
TT
≤
, где
1
T – заданный временной
интервал работы алгоритма случайного поиска, то осуществляется возврат к п. 1, если нет, то работа алгоритма завершается.
Таким образом, результатом работы алгоритма случайного поиска является тест функционального контроля и список
необнаруженных неисправностей.
Дальнейшее построение тестовых наборов при наличии такого списка производится при помощи детерминированных
алгоритмов. Детерминированные алгоритмы обеспечивают получение тестов с большей полнотой, чем алгоритмы
случайного поиска, однако выполняются значительно медленнее. Наиболее широко в качестве таких алгоритмов применяют
модификации D-алгоритма.
Математический аппарат, применяемый в D-алгоритме, основанный на понятии логических кубов и правил действий
над ними, подробно рассмотрен в [3]. Сущность алгоритма заключается в реализации идеи активизации пути, которая
состоит в том, что на выходе неисправного элемента должно изменяться значение сигнала как свидетельство наличия
неисправности. Этот сигнал должен быть передан по цепочке последовательно соединенных логических элементов,
составляющих так называемый активизированный путь, на какой-либо выход схемы; в результате значения сигналов на этом
выходе у исправной и неисправной схем будут различными.
С помощью D-алгоритма находят такой входной набор, который для заданной неисправности выявляет в логической
схеме активизированный путь и обеспечивает изменение сигналов на входах и выходах элементов по всему
активизированному пути от неисправного элемента до выхода схемы.
Следует заметить, что целесообразно совместное использование алгоритма случайного поиска и детерминированных
алгоритмов. В этом случае на начальном этапе построения теста используется случайный поиск, а после снижения его
эффективности применяется детерминированный алгоритм.
4.5. ТЕСТЫ ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА
Необходимость параметрического контроля качества ЭС обусловлена рядом причин. Основными из них являются
следующие [3].
1. При производстве ЭС нано- и пикосекундного диапазона, в которых задержки распространения сигналов в связях
становятся соизмеримыми с задержками распространения на элементах, а иногда и превышают их, предъявляются
повышенные требования к точности технологического процесса. Малейшие отклонения от норм приводят к недопустимым
изменениям электрических и динамических характеристик ЭС. Во-первых, увеличению доли физических дефектов, которые не
могут адекватно моделироваться классами постоянных логических неисправностей. Во-вторых, обнаружение дефектов,
связанных с качеством технологии производства, предъявляет свои требования к процессу генерации тестов и не может быть
сведено только к пассивному измерению значений параметров на тестовых последовательностях, ориентированных на
другой класс неисправностей.
2. Некоторые виды физических дефектов приводят к появлению неустойчивого логического уровня сигнала (в одних
случаях сигнал определяется как логический ноль, а в других – как логическая единица). Естественно, такие дефекты могут
быть не обнаружены тестами, ориентированными на класс устойчивых логических неисправностей. Некоторые из такого
рода физических дефектов обнаруживаются тестами параметрического контроля. Другими словами, параметрический
контроль позволяет расширить область обнаруживаемых неустойчивых неисправностей.
3. Информация о разбросе действительных электрических и динамических характеристик позволяет корректно
организовывать некоторые контрольные эксперименты, например, с заданием не нормируемых, а изменяющихся в пределах
допуска значений входных сигналов (допусковый контроль).
4. Информация о действительных электрических и динамических характеристиках необходима для оценки качества
выпускаемой продукции в текущий момент времени.
Следовательно, современный этап развития технологии производства ЭС требует внедрения не только тестов
функционального, но и тестов параметрического контроля.
Для формализации процесса получения тестов параметрического контроля необходима математическая модель. Это
может быть, например, динамическая модель в виде системы дифференциальных уравнений, позволяющая детально
рассматривать динамику изменения этих параметров. Однако использование такого рода моделей чрезвычайно сложно для
указанных выше объектов контроля, а получаемая от них информация является избыточной для поставленных целей.
В этих случаях используются аналитические и структурные модели, построенные на основании различного рода
зависимостей, в качестве которых используются, например, зависимости, описывающие величину задержки сигнала,
максимальных токов потребления схемы и выходного сигнала, формирования напряжения на выходе устройства и др. [3].
Зависимости, представляющие суммирование токов и ориентированные на проверку помехозащищенности, могут
служить для обнаружения коротких замыканий и обрывов входной периферии, а также выявления неисправности элементов
входного уровня, работающих непосредственно от входов проверяемого ЭС. Контроль этих параметров полезен при
отсутствии тестов, ориентированных на обнаружение неисправностей типа "короткое замыкание связей", "короткое
замыкание элементов", так как позволяет обнаружить наиболее вероятные из дефектов технологического процесса.
Тесты для порогового значения входного сигнала, основанные на зависимостях, полученных в предположении
существования активизированного пути "j-й вход схемы – i-й выход", позволяют диагностировать дефекты, связанные с
потерей стабилизирующих свойств элемента, и дефекты связей, влияющие на уровни напряжения (сопротивления
проводников, превышающие значения, определяемые стабилизирующими свойствами элементов).
Необходимо заметить, что выбор моделей должен учитывать поставленные задачи, технологию производства и состав
средств моделирования.

Страницы