Управление качеством электронных средств - 29 стр.

UptoLike

Составители: 

0=T , если либо 0=C , либо 0=V ;
1=
T
, если и 1=C , и 1=V ;
10 << T при 10 << C и 10
<
< V .
Например, если элемент имеет значение управляемости
5,0
=
C и наблюдаемости 5,0=V , то его тестопригодность
можно оценить как 25,0=T .
Общий показатель тестопригодности для всей ЭС определяется как мера средней трудоемкости получения теста для
каждого элемента, а следовательно, эта мера является средним арифметическим значением тестопригодности всех элементов
ЭС:
NTT
n
i
i
=
=
1
ЭС
, где N – количество элементов ЭС.
4.7. АВТОМАТИЗИРОВАННЫЕ СИСТЕМЫ ПОСТРОЕНИЯ ТЕСТОВ
КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ
В настоящее время тесты для различных видов контроля качества ЭС разрабатываются, в основном, с помощью систем
автоматизированного проектирования (САПР), в которых имеются специальные независимые подсистемы
автоматизированного построения тестов, использующие информацию о логических схемах ЭС и электрических
характеристиках элементов ЭС, хранящуюся в базе данных САПР. В состав таких САПР, кроме того, входят программы,
с помощью которых возможно определить тестопригодность ЭС.
Блок-схема автоматизированной системы построения тестов, приведенная на рис. 25, является общей для
функционального и параметрического контроля качества ЭС. Рассмотрим ее основные элементы [3].
Рис. 25. Структура автоматизированной системы построения тестов
Блок 1 предназначен для трансляции описания логической схемы рассматриваемого ЭС на языке САПР и передачи в
базу данных (блок 2), где хранится информация о всех логических схемах ЭС. Блок 3 представляет библиотеку логических
элементов, соответствующих разработанным и выпускаемым интегральным микросхемам, типовым элементам замены,
модулям и другим элементом с описанием их логических схем и физических характеристик.
Управление (блок 4) осуществляется через диалоговую систему, основным назначением которой являются задание
режимов работы системы построения тестов, отображение и анализ информации о результатах работы, ввод исходных
данных и анализ проектируемых тестов, а также внесение необходимых изменений в тестируемые ЭС.
Преобразование входной информации о тестируемом ЭС и представление ее в удобной для последующей работы
системы форме выполняется тремя трансляторами. Транслятор для логической модели (блок 5) подготавливает информацию
для блока 8 структурного анализа логической схемы ЭС. Этот блок на рис. 25 выделен отдельно, но он тесно связан с блоком
12 "логическая модель схемы". Кроме того, информация о структуре ЭС и его элементах может быть использована также для