101 вопрос о нанотехнологиях. Нагорнов Ю.С. - 49 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

49
Разрешающая способность просвечивающих электронных микроскопов достигает
0.2 нм что даёт возможность получать изображения отдельных атомов и молекул,
разрешающая способность растровых электронных микроскопов приближается к этой
величине и достигает в настоящее время величины 0.5 нм (рис. 33).
Вопрос 47. Что такое сканирующий атомно-силовой микроскоп?
Атомно-силовая микроскопия вид зондовой микроскопии, в основе которого лежит
силовое взаимодействие атомов. На расстоянии около одного ангстрема между атомами
образца и атомом зонда (кантилевера) возникают силы отталкивания, а на больших
расстояниях силы притяжения. Идея устройства очень проста кантилевер,
перемещаясь относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие,
регистрирует ее рельеф.
В сканирующих зондовых микроскопах исследование микрорельефа поверхности и ее
локальных свойств проводится с помощью специальным образом приготовленных зондов
в виде игл. Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры порядка десяти
нанометров. Характерное расстояние между зондом и поверхностью образцов в зондовых
микроскопах по порядку величин составляет 0,1 – 10 нм.
В основе работы зондовых микроскопов лежат различные типы взаимодействия зонда
с поверхностью. Так, работа туннельного микроскопа основана на явлении протекания
туннельного тока между металлической иглой и проводящим образцом; различные типы
силового взаимодействия лежат в основе работы атомно-силового, магнитно-силового и
электросилового микроскопов.
В основе работы АСМ лежит силовое взаимодействие между зондом и поверхностью,
для регистрации которого используются специальные зондовые датчики,
представляющие собой упругую консоль с острым зондом на конце (рис. 34). Сила,
действующая на зонд со стороны поверхности, приводит к изгибу консоли. Регистрируя
величину изгиба, можно контролировать силу взаимодействия зонда с поверхность
Рис. 34. Схематическое изображение зондового датчика АСМ.