ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
2
УДК 577.3 Печатается по решению научно-технического
ББК 28.07 совета ФГБОУ ВПО «ТГУ»
Н 16
Работа выполнена при поддержке ФЦП «Научные и научно-
педагогические кадры инновационной России» на 2009-2013 гг.
Н 16 Нагорнов Ю.С., Ясников И.С., Тюрьков М.Н. Способы
исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной
микроскопии. Тольятти: ТГУ, 2012. 58 с.
ISBN 978-5-88504-099-0
В учебном пособии представлена современная научная информация о
возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии.
Приведены характерные особенности методик атомно-силовой
микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию
о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод
Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы
электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации
различных методик для исследования микроскопических объектов
электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы
методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно
идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения
изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
УДК 577.3
ББК 28.07
© Нагорнов Ю.С., Ясников И.С.,
Тюрьков М.Н.
© ФГБОУ ВПО «ТГУ»
