ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
3
СОДЕРЖАНИЕ
Введение
4
Глава 1
.
Основы
сканирующей
атомно
-
силовой
и туннельной
микроскопии
1.1 Принцип работы атомно
-
силового микроскопа
8
1.2 Техника измерений атомно
-
силовой микроскопии
13
1.3 Техника измерений туннельной микроскопии
20
1.
4
Методики атомно
-
силовой микроскопии
26
Глав
а 2
.
Исследования поверхности материалов методами
сканирующей электронной микроскопии
2.1 Принцип работы электронного микроскопа
38
2.2
Сканирующая электронная микроскопия как метод
изучения микроскопических объектов электролитического
происхождения
45
Заключение
56
Список литературы
57
